光無(wú)源器件_第1頁(yè)
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1、光無(wú)源器件百科名片百科名片光無(wú)源器件光無(wú)源器件是光纖通信設(shè)備的重要組成部分,也是其它光纖應(yīng)用領(lǐng)域不可缺少的元器件。具有高回波損耗、低插入損耗、高可靠性、穩(wěn)定性、機(jī)械耐磨性和抗腐蝕性、易于操作等特點(diǎn),廣泛應(yīng)用于長(zhǎng)距離通信、區(qū)域網(wǎng)絡(luò)及光纖到戶、視頻傳輸、光纖感測(cè)等等。目錄目錄光無(wú)源器件的品種光無(wú)源器件的測(cè)試方法?光無(wú)源器件的測(cè)試結(jié)論光源選擇?功率計(jì)選擇?偏振控制器選擇?測(cè)試系統(tǒng)的選擇?本文結(jié)論原理及應(yīng)用簡(jiǎn)介?光纖活動(dòng)連接器連接器插頭?跳線?

2、轉(zhuǎn)換器?變換器?光纖活動(dòng)連接器的表征指標(biāo)插入損耗?回波損耗?重復(fù)性?互換性活動(dòng)連接器的使用?光分路器光分路器的分光原理然而問題還沒有解決,PDL是可以了,但回波損耗測(cè)試卻受到影響。我們知道,測(cè)試DUT回波損耗需要先測(cè)出測(cè)試系統(tǒng)本身的回光功率,然后測(cè)出系統(tǒng)與DUT共同的回光功率,相減得出DUT回光功率。從數(shù)學(xué)上容易理解,系統(tǒng)回光功率相對(duì)越小,DUT回?fù)p值的精確度、可靠性以及動(dòng)態(tài)范圍就會(huì)越好,反之則越差。在第二種系統(tǒng)中,系統(tǒng)回光功率包含了偏

3、振控制器回光功率,所以比較大,進(jìn)而限制了DUT回?fù)p測(cè)試的可靠性和動(dòng)態(tài)范圍。但一般而言,只要不是測(cè)試60dB以外的回?fù)p值,這種配置的問題還不大,因此它在回?fù)p要求不高的場(chǎng)合是一種還算過得去的測(cè)試方法。除了上述兩種測(cè)試方案以外,還有一種基于Mueller矩陣法的測(cè)試系統(tǒng)(圖3)。這種測(cè)試系統(tǒng)采用基于摻鉺光纖環(huán)的可調(diào)諧激光器(EDFTLS)而并非普通外腔式激光器,這點(diǎn)很重要,后文還有論述,此外它還加上Mueller矩陣分析法專用的偏振控制器、回

4、損儀和光功率計(jì)。由于采用Mueller矩陣法測(cè)試PDL時(shí)要求測(cè)試光有穩(wěn)定的偏振狀態(tài),所以可調(diào)諧光源與偏振控制器之間以及偏振控制器與回?fù)p儀之間要用硬跳線連接,這樣可以排除光纖擺動(dòng)對(duì)測(cè)試的影響。用Mueller矩陣法測(cè)試PDL需要做參考,所以在一定程度上可以排除測(cè)試鏈路對(duì)PDL測(cè)試的影響,因此這個(gè)系統(tǒng)可以得到較高的PDL測(cè)試精度以及回?fù)p與插損精度,測(cè)試的可靠性和可操作性都很好。在該系統(tǒng)中每個(gè)測(cè)試單元不是獨(dú)立地工作,它們必須整合為一體,可調(diào)諧

5、光源不停掃描,功率計(jì)不停采集數(shù)據(jù),測(cè)試主機(jī)分析采集所得數(shù)據(jù),最后得出IL、PDL和L隨波長(zhǎng)變化的曲線。這種方法目前主要用在像DWDM器件等多通道器件測(cè)試上,是目前非常先進(jìn)的測(cè)試方法。上述三種測(cè)試方法中,筆者認(rèn)為除了最后一種方法是測(cè)試DWDM多通道器件實(shí)現(xiàn)快速測(cè)試的最佳方案以外,其它兩種方法都不足取,原因是它們都一味強(qiáng)調(diào)方便,而忽略了精密測(cè)試的精確、可靠性及重復(fù)性的要求。這也是為什么很多器件廠家測(cè)試同樣的產(chǎn)品,今天測(cè)和明天測(cè)結(jié)果會(huì)大相徑庭

6、的原因。解決辦法參見圖4的耦合器測(cè)試裝配方式。利用圖4的配置可以一次得出器件的回?fù)p和方向性參數(shù),以及器件PDL和平均IL。由于測(cè)試激光光源為偏振光源,這樣對(duì)于器件插損測(cè)試就有一個(gè)PDL值大小系統(tǒng)測(cè)試的不確定性,如果器件本身PDL較大會(huì)比較成問題,所以采用去偏振器進(jìn)行平均損耗測(cè)試。這種測(cè)試方法的優(yōu)點(diǎn)是測(cè)試穩(wěn)定準(zhǔn)確,基本排除了理論或系統(tǒng)誤差,甚至抑制了隨機(jī)誤差,如插損采用無(wú)源去偏振器測(cè)試,缺點(diǎn)是需要搭建三個(gè)工位。EXFO公司資深專家、國(guó)際電

7、聯(lián)PMD組主席reGirard有一句口頭禪,叫做Nothingperfect!器件測(cè)試也是這樣,是想要測(cè)試方便,但測(cè)試可靠性、重復(fù)性下降,還是想要測(cè)試可靠性與精度較高,但測(cè)試相對(duì)麻煩呢?一切都在個(gè)人取舍之間。上面是從測(cè)試工位的搭建即測(cè)試工位的拓?fù)潢P(guān)系來(lái)討論器件最佳測(cè)試,其實(shí)測(cè)試工藝中測(cè)試設(shè)備的選型占有更重要的位置。編輯本段光無(wú)源器件的測(cè)試結(jié)論下面分別論述測(cè)試光源、功率計(jì)、偏振控制器以及測(cè)試系統(tǒng)對(duì)測(cè)試精確性、可靠性和重復(fù)性的影響。光源選擇

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