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文檔簡介
1、SOI(Silicon on Insulator)微環(huán)諧振腔具有結(jié)構(gòu)緊湊,與COMS工藝兼容,適合于大規(guī)模單片集成等一系列優(yōu)勢,因此其功能強大,是集成光學(xué)中非常關(guān)鍵的元器件之一。它在光濾波器、光延時線、光緩存、光開關(guān)、光調(diào)制器、波長轉(zhuǎn)換器、傳感器、光邏輯門、激光器等領(lǐng)域都有著重要的研究和應(yīng)用價值。本文結(jié)合國內(nèi)外的微環(huán)諧振腔研究現(xiàn)狀,基于理論分析,將仿真模擬與實驗驗證相結(jié)合,研究設(shè)計并加工測試了SOI微環(huán)諧振腔結(jié)構(gòu)。
本研究主要
2、內(nèi)容包括:⑴從SOI光波導(dǎo)器件出發(fā),研究光在波導(dǎo)中傳輸?shù)哪J教匦院蛽p耗特性等。通過改變波導(dǎo)的結(jié)構(gòu)參數(shù),仿真分析和比較了光場模式特性的變化規(guī)律,并討論其對傳輸特性的影響。在此基礎(chǔ)上優(yōu)化參數(shù),從而對微環(huán)的結(jié)構(gòu)設(shè)計給出合理的建議。介紹了兩種基本直波導(dǎo)-環(huán)形諧振腔的傳輸模型,同時利用耦合模理論對波導(dǎo)和環(huán)形腔間的各個耦合參數(shù)和傳輸情況進(jìn)行了詳細(xì)的公式推導(dǎo)。⑵基于全通型微環(huán)結(jié)構(gòu),利用FDTD(Finite Difference Time Domai
3、n)法對微環(huán)諧振腔結(jié)構(gòu)中微環(huán)波導(dǎo)寬度與其傳輸性能、品質(zhì)因子(Quality Factor)的影響關(guān)系進(jìn)行了理論分析與仿真。研究結(jié)果表明,微環(huán)寬度過小會大大增加微環(huán)的輻射損耗,當(dāng)波導(dǎo)寬度越大時,輻射損耗會越小,Q值也越高。但波導(dǎo)寬度過寬時,將出現(xiàn)多模情況。因此,滿足單模條件下微環(huán)波導(dǎo)的寬度應(yīng)盡量大,這樣能夠減小微環(huán)的輻射損耗,提高Q值。仿真優(yōu)化結(jié)果表明微環(huán)半徑10um,微環(huán)波導(dǎo)寬度為600nm時,1.55um波長附近的諧振峰的消光比為18
4、.2dB,計算Q值約2.2×105,此時的器件性能最為理想,可以實現(xiàn)單模工作和高Q值。進(jìn)一步研究了耦合間距、平板高度對Q值的影響。微環(huán)與直波導(dǎo)間距的改變影響耦合效率,當(dāng)間距逐漸增大時,由于耦合效率降低,Q值則逐漸提高;同時,隨著平板區(qū)厚度的減小,輻射損耗會越小,因此Q值越高。研究結(jié)果為微環(huán)諧振腔的優(yōu)化和沒計提供了參考。⑶結(jié)合仿真模擬分析的結(jié)果,設(shè)計了波導(dǎo)尺寸、微環(huán)半徑、耦合間距以及垂直耦合光柵等微環(huán)諧振腔版圖結(jié)構(gòu)參數(shù)。利用L-Edit版
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