吉赫茲橫電磁波小室測量與校準方法研究.pdf

1、隨著電力電子技術的不斷發(fā)展，由高速數(shù)字印刷電路的應用引起的大量輻射電磁干擾問題在現(xiàn)實中不斷出現(xiàn)且尚未得到很好解決，而電磁兼容標準中所規(guī)定的輻射發(fā)射和測量裝置主要為開闊場(OAT)和電波暗室對于一般的民用產品較難實現(xiàn)；另一方面，成本相對較低的吉赫茲橫電磁波(GTEM)小室大都用于電磁抗擾度(EMS)測試，針對電磁干擾(EMI)的測量尚在研究之中，并且還存在計算精度不高、實現(xiàn)復雜等問題。
　　針對上述問題，本文開展了“用于輻射電磁干擾

2、測量的吉赫茲橫電磁波(GTEM)小室測量與校準方法研究”，包括以下三個部分：
　　(1)提出了GTEM小室輻射電磁干擾測試系統(tǒng)的硬件結構和算法實現(xiàn)方法，使GTEM小室既可用于輻射電磁干擾噪聲的測試，又可進行輻射噪聲機理的診斷；同時，采用Lab VIEW軟件開發(fā)平臺設計一套自動測試系統(tǒng)，將GTEM小室的測量數(shù)據(jù)轉換為等效的標準測量結果并判斷其輻射機理。
　　(2)提出了GTEM小室的校準方法，采用多項式模型提取輻射噪聲，利用方

3、差對該模型的計算誤差進行補償，并基于高階矩分析校準后的GTEM小室和3m電波暗室測量的輻射電場值分布的相似性。
　　(3)基于上述方法，分別采用GTEM小室對電壓驅動輻射模型PCB、基于RFID芯片的刷卡機和醫(yī)療用助視器的輻射電磁干擾噪聲進行分析，驗證了GTEM小室測量校準方法對于不同的被測設備的均可適用。
　　理論分析與實驗結果表明，本文方法能夠使GTEM小室用于輻射電磁干擾的測量和診斷，并使得其測量精度明顯提高，表明GT