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文檔簡介
1、本文以直徑φ40μm的Co基非晶絲為研究對象,研究復合磁場退火處理對非晶絲GMI效應的影響規(guī)律。同時,研究非晶絲電鍍Ni工藝,分析鍍Ni后非晶絲可焊性的變化及鍍Ni連接對非晶絲GMI穩(wěn)定性的影響。
巨磁阻抗分析表明:與制備態(tài)及普通真空退火處理非晶絲相比,復合磁場退火能顯著改善非晶絲GMI效應并提高磁場響應靈敏度。優(yōu)化的退火工藝為:在300℃下保溫20min后升溫至400℃,同時在橫向磁場(α=90°)下保溫10min,10MH
2、z時,最大 GMI比率達310.7%,最大靈敏度達30.91%/Oe。適當調整退火磁場與絲軸向夾角α可增大非晶絲環(huán)向磁各向異性,致使GMI曲線由單峰(SP)轉變?yōu)殡p峰(DPs)。
非晶絲經(jīng)過橫向復合磁場退火處理后,出現(xiàn)非對稱巨磁阻抗(AGMI)效應。其原因為非晶絲在橫向磁場退火過程中,非晶絲內部產(chǎn)生原子有序區(qū)阻礙原子磁矩隨外磁場轉動,導致環(huán)向磁化過程呈非對稱,引起AGMI效應。
優(yōu)化的非晶絲電鍍 Ni工藝為在快速鍍鎳
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