

版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡(jiǎn)介
1、隨著歐盟WEEE與RoHs指令的實(shí)施,市場(chǎng)涌現(xiàn)出各種無(wú)鉛焊接材料和技術(shù),研究趨勢(shì)是無(wú)鉛焊料中SnAg焊料與三元的SnAgCu焊料將取代PbSn焊料。微電子產(chǎn)業(yè)發(fā)展的趨勢(shì)正朝著低成本、高I/O數(shù)目、高運(yùn)算速度及較小元件尺寸的方向發(fā)展。BGA(Ball Grid Array)封裝技術(shù),是目前具有成本效益、高I/O數(shù)目的表面貼裝封裝技術(shù)。BGA封裝基板上焊點(diǎn)以面矩陣排列方式,達(dá)到高密度平面接合的目的。焊點(diǎn)是BGA中相當(dāng)重要的一環(huán),焊點(diǎn)的強(qiáng)度對(duì)
2、成品的良率及可靠性有著直接的影響。
實(shí)驗(yàn)研究BGA封裝中影響焊接連接質(zhì)量的關(guān)鍵因素,以及無(wú)鉛焊料配方選擇的各自利弊。目的是希望借此能夠?qū)ιa(chǎn)廠家的生產(chǎn)工藝,原材料選擇方面提供一些有益的幫助。
通過(guò)使用BGA封裝中常用的可靠性分析及失效分析方法,例如剪力測(cè)試、拉力測(cè)試和金相分析等獲取實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),基于Minitab軟件歸納出影響焊接連接質(zhì)量的各因素間的關(guān)系,以此對(duì)無(wú)鉛焊料的選擇提供依據(jù)。
結(jié)果顯示:IMC(金屬間
3、化合物)的碎裂是產(chǎn)生“灰焊盤(pán)”的主要失效機(jī)理;焊球合金中,隨著Ag的含量降低,可以增強(qiáng)焊球的延展性,從而有利于在焊球與IMC間很好地吸收和分散應(yīng)力;當(dāng)SnAgCu合金焊球中,Cu%<0.5%時(shí),IMC層由上下兩層(CuNi)6Sn5和(NiCu)3Sn4共同形成,它更易導(dǎo)致由外加應(yīng)力引起的碎裂。
我們得到結(jié)論:影響焊球焊接連接質(zhì)量的原因不一而足,它是一個(gè)復(fù)雜的系統(tǒng),只有有效地找到封裝內(nèi)存在可靠性風(fēng)險(xiǎn)的最“虛弱”的位置,并對(duì)之加
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- BGA封裝中的無(wú)鉛焊點(diǎn)可靠性研究.pdf
- 功率器件無(wú)鉛焊料焊接層可靠性研究.pdf
- 無(wú)鉛焊料對(duì)電子封裝芯片動(dòng)態(tài)可靠性影響的研究.pdf
- 球柵陣列BGA封裝焊球的力學(xué)可靠性分析及預(yù)測(cè).pdf
- 無(wú)鉛焊接及可靠性培訓(xùn)
- 新型無(wú)鉛焊料的制備及無(wú)鉛-有鉛混焊可靠性研究.pdf
- 微電子封裝中無(wú)鉛焊點(diǎn)的實(shí)驗(yàn)研究與可靠性分析.pdf
- BGA封裝焊點(diǎn)可靠性及疲勞壽命分析.pdf
- 無(wú)鉛焊料的熱老化可靠性研究和新型焊料的開(kāi)發(fā).pdf
- BGA封裝的可靠性模擬與研究.pdf
- 低銀無(wú)鉛焊料合金sn1.0ag0.5cu及其bga焊點(diǎn)可靠性研究
- 倒裝芯片SnAgCu無(wú)鉛焊料焊點(diǎn)的可靠性研究.pdf
- 晶片級(jí)封裝的可靠性分析.pdf
- 無(wú)鉛BGA焊點(diǎn)的隨機(jī)振動(dòng)可靠性及其失效分析.pdf
- BGA封裝的熱應(yīng)力分析及其熱可靠性研究.pdf
- 無(wú)鉛塑料球柵陣列封裝熱失效分析及可靠性研究.pdf
- PBGA封裝熱可靠性分析及結(jié)構(gòu)優(yōu)化.pdf
- 三維疊層CSP-BGA封裝的熱分析與焊點(diǎn)可靠性分析.pdf
- 畢業(yè)論文---焊料的無(wú)鉛化及可靠性問(wèn)題
- 功率器件SnAgCu無(wú)鉛焊接層可靠性研究.pdf
評(píng)論
0/150
提交評(píng)論