CDC技術(shù)應(yīng)用在ECT數(shù)據(jù)采集的研究.pdf

1、在所有過程層析成像技術(shù)中，ECT技術(shù)（Electrical Capacitance Tomography，ECT）有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，成本低，非侵入，響應(yīng)速度快等優(yōu)點(diǎn)，因此得到廣泛的研究和應(yīng)用。電容數(shù)據(jù)采集方法在ECT系統(tǒng)中是最重要的部分，大多數(shù)ECT系統(tǒng)采用分立元件實(shí)現(xiàn)，分立元件集成化不高，結(jié)構(gòu)復(fù)雜，性能指標(biāo)差，集成電路的方法更適合電容數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)在實(shí)驗(yàn)室或者工業(yè)中使用。
　　本文主要研究，微小電容檢測(cè)的難點(diǎn)和要解決的問題。本文研究 C

2、DC（電容數(shù)字量轉(zhuǎn)換）技術(shù)在測(cè)量微小電容，同時(shí)以 CDC技術(shù)出發(fā)，建立 ECT數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。對(duì)以往的采集解決方案進(jìn)行分析比較。AD7746芯片是AD公司生產(chǎn)的具有I2C總線接口的電容數(shù)字轉(zhuǎn)換器。該轉(zhuǎn)換器支持單端電容輸入和差分式電容輸入。文章設(shè)計(jì)的電容傳感器,采用高精度的電容數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片AD7746,解決了從電容到數(shù)字直接轉(zhuǎn)換的復(fù)雜且困難的信號(hào)處理難題。本文進(jìn)行了基于AD7746數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)。
　　對(duì)于多路電容我們采用16?8矩

3、陣式模擬開關(guān)作為選擇電路，這種開關(guān)是陣列式開關(guān)，可以直接選擇任何通道的極板對(duì)。用STM32為控制核心，建立ECT數(shù)據(jù)及電容數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的平臺(tái)。設(shè)計(jì)上位機(jī)軟件進(jìn)行讀取數(shù)據(jù)，通過 RS232方式進(jìn)行上下位機(jī)之間的通訊。完成軟件及硬件的調(diào)試，電容數(shù)據(jù)的采集，并進(jìn)行系統(tǒng)性能的分析。
　　完成了硬件電路的設(shè)計(jì)，描述了各個(gè)電路的組成，其中包括電容傳感器與電容—數(shù)字轉(zhuǎn)換器電路，轉(zhuǎn)換器與主控器的接口電路。并分析了電路中的芯片的主要功能以及各部分電