一種八位單片機(jī)的測(cè)試解決方案.pdf

1、本文的研究目的是提供一個(gè)完整的單片機(jī)測(cè)試流程，從設(shè)計(jì)到生產(chǎn)，更多的關(guān)注業(yè)界中使用的實(shí)際操作方法。本文從典型的51系列單片機(jī)的電路結(jié)構(gòu)分析開(kāi)始，再結(jié)合集成電路的測(cè)試基本原理，深入的研究了單片機(jī)的測(cè)試方法，最后實(shí)現(xiàn)單片機(jī)的量產(chǎn)測(cè)試。
　　首先本文介紹了通用的51系列單片機(jī)的架構(gòu)。通過(guò)對(duì)單片機(jī)不同模塊的功能介紹，說(shuō)明了一些模塊的電路結(jié)構(gòu)和功能描述，為之后的測(cè)試討論奠定了基礎(chǔ)。接下來(lái)介紹了一些有關(guān)集成電路測(cè)試的基礎(chǔ)知識(shí)，了解這些測(cè)試原理，

2、可以更深入的開(kāi)發(fā)測(cè)試算法或者使用可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)技術(shù)。
　　然后本文介紹了單片機(jī)測(cè)試常用的DFT技術(shù)，通過(guò)使用掃描(SCAN)測(cè)試方法，可以實(shí)現(xiàn)大部分?jǐn)?shù)字電路的測(cè)試，包括單片機(jī)的組合電路和時(shí)序電路部分。而使用存儲(chǔ)器內(nèi)建測(cè)試(MBIST)技術(shù)，可以高效的完成單片機(jī)內(nèi)部嵌入式的存儲(chǔ)器測(cè)試。靜態(tài)電流(IDDQ)測(cè)試則從單片機(jī)的可靠性角度出發(fā)，能夠檢測(cè)出很多芯片內(nèi)部的潛在問(wèn)題。將以上的幾種方法結(jié)合，就能生產(chǎn)出易于測(cè)試的單片機(jī)芯片。