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文檔簡介
1、憑借豐富的色彩和低廉的價(jià)格,硼硅玻璃表面沉積薄膜部分代替微晶玻璃這一理念有望在家電領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)。利用工業(yè)化連續(xù)腔室磁控濺射設(shè)備,采用 Ti和Al原子比為1:1的大型平面合金靶材和柱狀純硅靶,在氮?dú)夂蜌鍤鈿夥障拢ㄟ^調(diào)控工藝參數(shù)在硼硅玻璃表面沉積出黑色的TiAlN,而后傳送至后續(xù)腔室在TiAlN薄膜表面進(jìn)行透明SiN保護(hù)層的沉積,用以保證TiAlN層在高溫氧化的情況下保持黑色不變。
利用掃描電鏡、X射線衍射儀、X射線光電子能譜儀、透
2、射電鏡、納米壓痕儀等手段進(jìn)行分析。結(jié)果顯示,TiAlN/SiN復(fù)合膜中,內(nèi)部柱狀晶結(jié)構(gòu)的TiAlN層厚度約為300 nm,外部非晶結(jié)構(gòu)的SiN厚度110 nm至260 nm不等,厚度隨沉積時(shí)間非線性增加。TiAlN及SiN薄膜結(jié)構(gòu)致密,TiAlN層主要沿(111)晶向生長,同時(shí)含有(220)、(222)、(200)相。高溫氧化后TiAlN(111)相減弱,表面有孔隙生成,氧化溫度在700°C,薄膜表面有Al2O3和TiO2生成。硼硅玻璃
3、表面沉積TiAlN/SiN復(fù)合膜在600°C高溫氧化后保持黑色不變,當(dāng)氧化溫度達(dá)到700°C的時(shí)候,薄膜顏色開始發(fā)生變化,表面有SiO2及Si系氧化物生成,TiAlN(111)相減弱不明顯。從截面可觀察TiAlN/SiN復(fù)合膜表面有氧化層,厚度約為5至10納米,與SiN均為非晶結(jié)構(gòu)。氧化至900°C薄膜內(nèi)部TiAlN(111)相逐漸消失TiAlN(220)相減弱明顯,隨著柱狀晶結(jié)構(gòu)的消失及復(fù)合膜中Al2O3的生成,薄膜失效。外部SiN層
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