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文檔簡介
1、本文采用化學(xué)氣相沉積(CVD)在炭/炭復(fù)合材料表面制備了各種形貌的SiC涂層,借助XRD、SEM、TEM、IR、Raman等檢測手段分析了涂層的微觀形貌和晶體結(jié)構(gòu),分析了無催化劑條件下SiC晶須的生長機制,探索了CVD工藝參數(shù)對制備炭/炭復(fù)合材料表面硅基涂層形貌的影響,考察了各種形貌的SiC涂層耐化學(xué)腐蝕性能,并對涂層在不同的腐蝕介質(zhì)中的腐蝕機制進行了分析,主要研究內(nèi)容與結(jié)果如下:
(1)在無需加入催化劑的條件下,采用MT
2、S-H2體系在炭/炭復(fù)合材料表面原位生長了SiCw涂層,研究了高長徑比SiCw的制備工藝,結(jié)果表明:沉積溫度為1100℃,載氣和稀釋氣體均為H2,載氣流量為100ml/min,稀釋氣體流量為500ml/min,沉積時間為7h,可制備直徑為50-100nm左右的β-SiC晶須。
(2)未加入催化劑條件下SiC晶須是實心結(jié)構(gòu),為竹節(jié)狀,主干較直且有分枝生長現(xiàn)象,SiC晶須生長機理為氣(V)-固(S)機理。
(3)
3、研究了系統(tǒng)壓力和沉積位置對CVD-SiC形貌的影響,研究發(fā)現(xiàn)不同沉積位置CVD-SiC生長形貌不同,隨著與進氣口距離的增加,先從晶粒直徑較小的胞狀晶結(jié)構(gòu)變?yōu)榈容S狀球形顆粒,之后變?yōu)槎贪魻罹ы氈敝磷詈筠D(zhuǎn)變?yōu)榻Y(jié)構(gòu)疏松、直徑細小且相互纏繞的聚集生長。隨著系統(tǒng)壓力從0.4~12KPa增加,CVD-SiC形貌也表現(xiàn)出類似的規(guī)律。
(4)表面涂覆有CVD-SiC的炭/炭復(fù)合材料耐HCl、HF、HNO3腐蝕能力提高。在HCl、HF中95
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