炭-炭復(fù)合材料表面硅基材料及其腐蝕性能研究.pdf_第1頁
已閱讀1頁,還剩65頁未讀, 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進行舉報或認領(lǐng)

文檔簡介

1、本文采用化學(xué)氣相沉積(CVD)在炭/炭復(fù)合材料表面制備了各種形貌的SiC涂層,借助XRD、SEM、TEM、IR、Raman等檢測手段分析了涂層的微觀形貌和晶體結(jié)構(gòu),分析了無催化劑條件下SiC晶須的生長機制,探索了CVD工藝參數(shù)對制備炭/炭復(fù)合材料表面硅基涂層形貌的影響,考察了各種形貌的SiC涂層耐化學(xué)腐蝕性能,并對涂層在不同的腐蝕介質(zhì)中的腐蝕機制進行了分析,主要研究內(nèi)容與結(jié)果如下:
   (1)在無需加入催化劑的條件下,采用MT

2、S-H2體系在炭/炭復(fù)合材料表面原位生長了SiCw涂層,研究了高長徑比SiCw的制備工藝,結(jié)果表明:沉積溫度為1100℃,載氣和稀釋氣體均為H2,載氣流量為100ml/min,稀釋氣體流量為500ml/min,沉積時間為7h,可制備直徑為50-100nm左右的β-SiC晶須。
   (2)未加入催化劑條件下SiC晶須是實心結(jié)構(gòu),為竹節(jié)狀,主干較直且有分枝生長現(xiàn)象,SiC晶須生長機理為氣(V)-固(S)機理。
   (3)

3、研究了系統(tǒng)壓力和沉積位置對CVD-SiC形貌的影響,研究發(fā)現(xiàn)不同沉積位置CVD-SiC生長形貌不同,隨著與進氣口距離的增加,先從晶粒直徑較小的胞狀晶結(jié)構(gòu)變?yōu)榈容S狀球形顆粒,之后變?yōu)槎贪魻罹ы氈敝磷詈筠D(zhuǎn)變?yōu)榻Y(jié)構(gòu)疏松、直徑細小且相互纏繞的聚集生長。隨著系統(tǒng)壓力從0.4~12KPa增加,CVD-SiC形貌也表現(xiàn)出類似的規(guī)律。
   (4)表面涂覆有CVD-SiC的炭/炭復(fù)合材料耐HCl、HF、HNO3腐蝕能力提高。在HCl、HF中95

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論