電路板故障診斷系統(tǒng)測(cè)試程序開(kāi)發(fā)環(huán)境的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf

1、自動(dòng)測(cè)試技術(shù)是當(dāng)今測(cè)試領(lǐng)域重點(diǎn)研究的熱點(diǎn)問(wèn)題之一，本論文主要研究基于Visio控件的雷達(dá)電路板自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試程序開(kāi)發(fā)環(huán)境的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)。在我國(guó)航空航天工業(yè)中，雷達(dá)系統(tǒng)作為重要的組成部分，對(duì)其性能指標(biāo)的要求非常嚴(yán)格，需要經(jīng)常對(duì)其診斷和維修。隨著雷達(dá)電路板種類的增多，傳統(tǒng)的專用測(cè)試系統(tǒng)已經(jīng)不能滿足越來(lái)越復(fù)雜的要求；而且現(xiàn)階段的多數(shù)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)需要編程，對(duì)測(cè)試人員要求很高。因此研制通用性好，零編程的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)有著十分重要的意義。
　　

2、本文首先介紹了自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的總體結(jié)構(gòu)，分析國(guó)內(nèi)外測(cè)試程序開(kāi)發(fā)環(huán)境的應(yīng)用現(xiàn)狀，總結(jié)了國(guó)內(nèi)的測(cè)試程序集（TPS）開(kāi)發(fā)所面臨的一些問(wèn)題，進(jìn)而提出了本開(kāi)發(fā)環(huán)境的設(shè)計(jì)方向，即面向信號(hào)與零編程。測(cè)試程序開(kāi)發(fā)環(huán)境通過(guò)引入基于Visio控件的測(cè)試策略開(kāi)發(fā)工具，實(shí)現(xiàn)了測(cè)試過(guò)程的零編程。測(cè)試人員只需要在開(kāi)發(fā)環(huán)境中編輯被測(cè)對(duì)象的測(cè)試策略圖，進(jìn)而利用開(kāi)發(fā)環(huán)境提供的代碼轉(zhuǎn)換工具將測(cè)試策略轉(zhuǎn)換為對(duì)應(yīng)的測(cè)試源代碼，最后使用編譯工具對(duì)源代碼進(jìn)行編譯就能得到能在運(yùn)行環(huán)境

3、運(yùn)行的測(cè)試程序動(dòng)態(tài)庫(kù)。另外本模塊還設(shè)計(jì)了故障顯示和測(cè)試跟蹤功能，故障顯示通過(guò)解析PCB文件，獲取元件的坐標(biāo)，進(jìn)而將其轉(zhuǎn)化為元件在PCB圖片上的像素坐標(biāo)，最后使用像素坐標(biāo)將故障元件突出顯示到PCB原理圖圖片上；測(cè)試元件跟蹤實(shí)現(xiàn)了在PCB圖片上實(shí)時(shí)的顯示當(dāng)前正在測(cè)試的元件。
　　本測(cè)試程序開(kāi)發(fā)環(huán)境通過(guò)編輯測(cè)試策略流程圖代替?zhèn)鹘y(tǒng)的直接編寫(xiě)源程序，降低了開(kāi)發(fā)難度，提高了開(kāi)發(fā)效率?；赑CB文件的故障顯示能直觀的展示測(cè)試結(jié)果，另外測(cè)試跟蹤功