TFTR LCD Souce Driver芯片測試研究.pdf

1、本文主要以瀚瑞微電子有限公司的一款數(shù)字源驅(qū)動芯片的設(shè)計工作為基礎(chǔ)，利用現(xiàn)有的測試和可測試性設(shè)計技術(shù)，結(jié)合TFT-LCD驅(qū)動芯片的特點提出一套高效、實用、面向TFT-LCD驅(qū)動芯片制造的專用測試方案。該測試方案在有效地保證產(chǎn)品質(zhì)量的同時又能降低后端測試成本，從而可以最大限度的提高產(chǎn)品競爭力。
　　文章從液晶面板的工作原理和驅(qū)動液晶面板原理開始著手，并從芯片的內(nèi)部結(jié)構(gòu)闡述其驅(qū)動原理、多輸出通道、移位寄存器、Rail-to-Rail輸出

2、緩沖放大器、輸出電壓偏差較小和雙向移位能力等特性。還簡述了驅(qū)動芯片的設(shè)計流程和芯片的工藝和封裝測試流程，以及性能指標(biāo)。一個可測試的芯片包含：可控性、可觀測性和可隔離性這三個要素及對各要素的解釋說明。
　　總結(jié)液晶驅(qū)動芯片常規(guī)測試方法，及數(shù)字芯片和數(shù)摸轉(zhuǎn)換電路的測試方法和測試技術(shù)。詳述了如何制定測試方案，指出測試所著重考量的測試成本、測試電路開發(fā)的難度、ATE設(shè)備能力等幾大因素。針對顯示驅(qū)動電路特殊的測試需求、驅(qū)動芯片引腳眾多、測試

3、指標(biāo)難以選擇、測試成本壓力大等測試難點，以一款數(shù)字源驅(qū)動芯片為例，選取了合理的測試評價指標(biāo)，并利用該指標(biāo)體系對顯示驅(qū)動電路的測試進(jìn)行評價，既可以保證測試質(zhì)量，又能提高測試效率。
　　介紹了業(yè)界著名公司Yokogawa的LCD驅(qū)動芯片測試系統(tǒng)ST6730的特點和如何高效的使用測試資源來優(yōu)化測試方法，也同時說明實驗測試平臺的互補作用和實驗室測試平臺的系統(tǒng)細(xì)節(jié)。重點闡述了CP測試程式的編寫、調(diào)試及測試數(shù)據(jù)的分析和實驗室測試方法的應(yīng)用。將

4、多種方式的Relay控制，快速有效的驅(qū)動芯片引腳的輸出測試及高精度灰階測試等在測試實踐中做了詳細(xì)論述。其中，利用測試系統(tǒng)內(nèi)部有源負(fù)載電路進(jìn)行參數(shù)比較與參數(shù)范圍判斷，利用數(shù)字采樣器進(jìn)行精確測量，用快速比較法測試替代了傳統(tǒng)的DC測試法。利用機(jī)臺的CUNIT單元自帶獨立CPU可并行運算的特點，使數(shù)據(jù)處理的時間達(dá)到納秒級別，大大提高測試效率。
　　本文所提到的一系列測試方案已經(jīng)被國內(nèi)的相關(guān)設(shè)計公司廣泛應(yīng)用并認(rèn)可，并在一款數(shù)字源驅(qū)動芯片項目