單幅載波條紋圖相位提取方法的研究.pdf

1、對于大口徑光學元件的干涉測試，一直以來存在長干涉腔內(nèi)大氣的擾動問題，移相技術(shù)雖然可以得到很高的相位解調(diào)精度，但在相移過程中要求保持測試系統(tǒng)的機械穩(wěn)定，避免大氣的擾動，同時一般要求采集三幅或三幅以上的干涉圖，移相法顯然不適合處理研究動態(tài)的問題。二維FFT法只需要對一幅空間載波條紋圖處理即可獲得被測量，適合分析外界存在擾動的情況。
　　 本文重點討論了二維FFT法進行單幅空間載波干涉條紋圖處理的基本原理及流程。干涉圖的延拓是二維FF

2、T法中一項關(guān)鍵技術(shù)，因為延拓的效果對處理結(jié)果有很大的影響，本文主要討論了基于樣本的塊重建修描法和基于局部頻率估計的干涉圖延拓方法。在算法研究的基礎(chǔ)上，編寫相應(yīng)的模擬仿真程序，對實際采集的干涉圖進行測試，并與PSI方法測試結(jié)果進行對比，驗證了本文算法的精度。本文還研究了小波變換法在瞬態(tài)物體三維面形測量系統(tǒng)中的應(yīng)用，基于結(jié)構(gòu)光技術(shù)設(shè)計并搭建了一套正六邊形的測量系統(tǒng)，分別對靜態(tài)和瞬態(tài)測試環(huán)境下采集的物體變形條紋圖像進行處理，采用小波復原算法對