紅外焦平面器件性能檢測與特征分析研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、自近代軍事發(fā)展以來，紅外成像技術(shù)就一直是軍事應(yīng)用技術(shù)中的開發(fā)熱點，被深度的關(guān)注、研究及廣泛的應(yīng)用著。近些年來，隨著紅外技術(shù)的不斷改進和成熟，其應(yīng)用的覆蓋面也全面的擴大到了民用和其他科技研究領(lǐng)域，與此同時，紅外成像系統(tǒng)的性能測試和綜合評價，特別是針對系統(tǒng)核心紅外焦平面陣列探測器的性能測試和分析研究，便被賦予了更高的要求。本文將圍繞紅外焦平面的檢測技術(shù)和紅外焦平面的性能檢測分析展開研究工作。
　　主要研究工作如下：
　　1、針對

2、紅外成像技術(shù)以及紅外焦平面陣列探測器展開了詳盡的原理及發(fā)展背景研究和討論，通過與國外技術(shù)的對比參照，提出了傳統(tǒng)檢測技術(shù)的在實際測試應(yīng)用中沒有考慮到的問題。
　　2、詳細解析了傳統(tǒng)的紅外焦平面器件的測試原理和參數(shù)指標，分析了影響器件性能的主要測試指標。提出了傳統(tǒng)檢測技術(shù)缺乏對器件響應(yīng)特征和數(shù)據(jù)統(tǒng)計特征的分析。說明了研究統(tǒng)計特征和響應(yīng)特征的意義。
　　3、基于以上對紅外焦平面器件及整個紅外成像系統(tǒng)的分析和研究，本文提出了紅外焦平

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