基于嵌入式的超級(jí)電容器參數(shù)測(cè)量系統(tǒng)的研究.pdf

1、隨著嵌入式技術(shù)及DSP、FPGA在超級(jí)電容器測(cè)試領(lǐng)域的應(yīng)用不斷深入，使得超級(jí)電容測(cè)試機(jī)的便攜化大大加快?；诠β蔒OSFET的大電流控制技術(shù)已經(jīng)基本成型，作為數(shù)字化技術(shù)領(lǐng)跑者的DSP、FPGA無(wú)可爭(zhēng)議地取代了MCU(單片機(jī))在超級(jí)電容器測(cè)試系統(tǒng)中的主導(dǎo)地位?；谶@一背景，本課題提出并完成了基于嵌入式的超級(jí)電容器參數(shù)測(cè)量系統(tǒng)的研究。
　　 本文在深入分析超級(jí)電容器內(nèi)部結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上，提出了大電流恒流充放電的方法來(lái)實(shí)現(xiàn)測(cè)量，通過(guò)功率M

2、OSFET并聯(lián)擴(kuò)大電流并恒定電流，通過(guò)雙積分調(diào)節(jié)實(shí)現(xiàn)閉環(huán)控制，提高恒流精度。并對(duì)MOSFET并聯(lián)均流進(jìn)行了分析，對(duì)雙積分調(diào)節(jié)模塊做了祥述。
　　 根據(jù)設(shè)計(jì)的要求，論文確定了基于MOSFET的大電流恒流充放電測(cè)量方法的全套硬件、軟件方案，實(shí)現(xiàn)了測(cè)量流程的精確控制，并且電壓、電流可設(shè)置，能滿足相應(yīng)類型多種超級(jí)電容器的測(cè)試。在雙積分調(diào)節(jié)控制中，其中內(nèi)環(huán)積分調(diào)節(jié)通過(guò)硬件實(shí)現(xiàn)，使得調(diào)節(jié)過(guò)程連續(xù)，更能實(shí)時(shí)地調(diào)節(jié)。放電過(guò)程通過(guò)對(duì)超級(jí)電容器反向

3、充電實(shí)現(xiàn)，這樣才便于大電流恒流控制，提升了系統(tǒng)的整體性能，整套方案實(shí)現(xiàn)了先進(jìn)技術(shù)與成熟原理的優(yōu)勢(shì)互補(bǔ)。構(gòu)建了基于DSP+FPGA的控制系統(tǒng)，為流程控制和人機(jī)交互搭建了良好的硬件平臺(tái)。設(shè)計(jì)并搭建測(cè)試過(guò)程參數(shù)的實(shí)時(shí)采集電路，實(shí)現(xiàn)了測(cè)量信息的高精度獲取。外部IO由FPGA統(tǒng)一管理，便于系統(tǒng)擴(kuò)展和完善。軟件設(shè)計(jì)中采用功能模塊化的設(shè)計(jì)方法，各控制模塊分開(kāi)管理，方便程序閱讀和理解，且便于程序的更新升級(jí)。
　　 本文主要測(cè)量超級(jí)電容器的容量和