基于禁忌遺傳算法的SOC測(cè)試結(jié)構(gòu)優(yōu)化研究.pdf

1、隨著集成電路制造水平和設(shè)計(jì)能力的提高,系統(tǒng)芯片(System-On-a-Chip, SOC)作為一種高度集成的系統(tǒng)芯片越來(lái)越為人們所接受。同時(shí)由于SOC芯片采用了IP核復(fù)用技術(shù),這就給系統(tǒng)芯片測(cè)試帶來(lái)了一系列問(wèn)題。
　　SOC系統(tǒng)芯片測(cè)試綜合了測(cè)試復(fù)用技術(shù)和可測(cè)性設(shè)計(jì)方法,測(cè)試復(fù)用技術(shù)的關(guān)鍵是系統(tǒng)芯片SOC測(cè)試結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)。本文深入研究了IEEE P1500環(huán)的測(cè)試殼和基于測(cè)試總線的測(cè)試訪問(wèn)機(jī)制,并分析了它們的優(yōu)化原理。在此基礎(chǔ)上,

2、本文應(yīng)用BFD算法優(yōu)化測(cè)試殼,并取得了較好的優(yōu)化結(jié)果。
　　禁忌遺傳算法結(jié)合了遺傳算法的隨機(jī)搜索能力、并行性和禁忌搜索算法的記憶功能,有效地解決了遺傳算法爬山能力差和早熟的問(wèn)題。本文將禁忌遺傳算法應(yīng)用到SOC測(cè)試結(jié)構(gòu)優(yōu)化中,結(jié)合IP核測(cè)試調(diào)度特點(diǎn),建立了禁忌遺傳算法的數(shù)學(xué)模型。在對(duì)SOC測(cè)試結(jié)構(gòu)優(yōu)化過(guò)程中,本文通過(guò)對(duì)群體中每個(gè)染色體的編碼,決定IP核在測(cè)試訪問(wèn)機(jī)制上的分配。通過(guò)對(duì)禁忌遺傳算法中的參數(shù)的逐步調(diào)整以及對(duì)種群的交叉、變異