基于禁忌遺傳算法的SOC測試結構優(yōu)化研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著集成電路制造水平和設計能力的提高,系統(tǒng)芯片(System-On-a-Chip, SOC)作為一種高度集成的系統(tǒng)芯片越來越為人們所接受。同時由于SOC芯片采用了IP核復用技術,這就給系統(tǒng)芯片測試帶來了一系列問題。
　　SOC系統(tǒng)芯片測試綜合了測試復用技術和可測性設計方法,測試復用技術的關鍵是系統(tǒng)芯片SOC測試結構的設計。本文深入研究了IEEE P1500環(huán)的測試殼和基于測試總線的測試訪問機制,并分析了它們的優(yōu)化原理。在此基礎上,

2、本文應用BFD算法優(yōu)化測試殼,并取得了較好的優(yōu)化結果。
　　禁忌遺傳算法結合了遺傳算法的隨機搜索能力、并行性和禁忌搜索算法的記憶功能,有效地解決了遺傳算法爬山能力差和早熟的問題。本文將禁忌遺傳算法應用到SOC測試結構優(yōu)化中,結合IP核測試調度特點,建立了禁忌遺傳算法的數學模型。在對SOC測試結構優(yōu)化過程中,本文通過對群體中每個染色體的編碼,決定IP核在測試訪問機制上的分配。通過對禁忌遺傳算法中的參數的逐步調整以及對種群的交叉、變異

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