基于ARM的光澤計(jì)設(shè)計(jì).pdf

1、光澤度作為一個(gè)重要衡量物體表面光滑程度的重要指標(biāo)，有著廣泛的應(yīng)用[26]。測量光澤度的儀器--光澤計(jì)，一般有20°、60°和85°三種不同角度的光源以滿足不同應(yīng)用場合的需要。但目前國內(nèi)的光澤計(jì)存在一個(gè)缺陷，即在85°光源時(shí)，測量結(jié)果不是很準(zhǔn)確的情況。
　　 為了解決目前光澤計(jì)在85°入射光，其測量結(jié)果不精確的問題，設(shè)計(jì)了一種基于ARMCortex-M3處理器的光澤計(jì)的實(shí)現(xiàn)方法。該設(shè)計(jì)采用高亮度的發(fā)光二極管作為光源，以20°、60

2、°和85°三種角度分別對被測物體進(jìn)行照射，從而使其適應(yīng)于不同的場合。造成85°入射光測量結(jié)果不精確的主要原因是85°入射光與被測物體只有5°的夾角，入射光光源安裝上有困難。通過變更入射光初始位置，經(jīng)過一次反射后得到85°光源解決了此問題，保證了測量精度。
　　 選用ARMCortex-M3處理芯片的原因是，Cortex-M3ARM芯片不僅價(jià)格低廉，而且功耗很低，有著廣闊的市場前景。同時(shí)，該系列的芯片大部分附帶USB功能，能夠滿足