基于擴(kuò)展?fàn)顟B(tài)機(jī)的軟件缺陷檢測(cè)技術(shù)的研究與實(shí)現(xiàn).pdf

1、伴隨著信息技術(shù)的蓬勃發(fā)展以及軟件危機(jī)的頻頻出現(xiàn)，軟件測(cè)試的重要性顯而易見(jiàn)。作為軟件測(cè)試領(lǐng)域的一個(gè)重要方面--靜態(tài)測(cè)試以其不用運(yùn)行程序而是只通過(guò)分析源代碼查找錯(cuò)誤的優(yōu)點(diǎn)占據(jù)了重要的地位。基于缺陷模式的軟件靜態(tài)分析技術(shù)是近年來(lái)發(fā)展起來(lái)的一種程序源代碼靜態(tài)測(cè)試技術(shù)，其主要優(yōu)勢(shì)在于對(duì)缺陷的針對(duì)性強(qiáng)，而且可以檢測(cè)出如空指針引用等“小概率”缺陷。
　　 基于缺陷模式的軟件靜態(tài)分析技術(shù)的核心便是如何描述和定義缺陷模式以及如何設(shè)計(jì)高效統(tǒng)一的缺陷

2、檢測(cè)框架。針對(duì)上述問(wèn)題，本文提出了使用擴(kuò)展的缺陷模式狀態(tài)機(jī)進(jìn)行缺陷檢測(cè)的方法。論文的主要工作包括以下幾個(gè)方面。首先是缺陷模式狀態(tài)機(jī)的研究與實(shí)現(xiàn)，主要深入研究了狀態(tài)機(jī)的基本結(jié)構(gòu)組成、描述規(guī)則以及狀態(tài)機(jī)的轉(zhuǎn)換條件，并介紹了在應(yīng)用缺陷模式狀態(tài)機(jī)進(jìn)行缺陷檢測(cè)時(shí)的一些相關(guān)研究，如路徑敏感、不可達(dá)路徑、函數(shù)摘要等的分析，旨在提高檢測(cè)的效率和精度。然后，重點(diǎn)介紹了如何應(yīng)用該統(tǒng)一的缺陷模式狀態(tài)機(jī)框架進(jìn)行具體的缺陷檢測(cè)，給出了一些具體缺陷模式的定義和描述