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文檔簡介
1、熱釋電型紅外焦平面陣列是非致冷紅外熱成像技術(shù)發(fā)展的主流之一.與紅外單元器件相比,紅外焦平面陣列探測器的一個(gè)最大的缺點(diǎn)是其固有的非均勻性,它極大的限制了紅外焦平面成像系統(tǒng)的探測性能.實(shí)用化、實(shí)時(shí)的非均勻性校正技術(shù)是紅外焦平面陣列器件應(yīng)用的一個(gè)關(guān)鍵技術(shù).該文就是針對熱釋電型紅外焦平面陣列的非均勻性特征,開展對熱釋電紅外焦平面陣列的非均勻性分析以及其校正方法的研究.文中論述了紅外焦平面陣列技術(shù)的發(fā)展?fàn)顩r,分析了紅外焦平面陣列非均勻性產(chǎn)生的原因
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