基于圖像處理的柱面鏡母線(xiàn)垂直度測(cè)試樣機(jī)的研制.pdf

1、隨著科學(xué)技術(shù)發(fā)展，光學(xué)器件在各領(lǐng)域的應(yīng)用越來(lái)越廣泛，業(yè)界對(duì)器件的品質(zhì)要求也越來(lái)越高，高精度光學(xué)元件的檢測(cè)技術(shù)就成了生產(chǎn)商的技術(shù)難點(diǎn)。國(guó)產(chǎn)傳統(tǒng)檢測(cè)設(shè)備由于精度低、體積大、操作復(fù)雜，已經(jīng)不能滿(mǎn)足現(xiàn)在的要求，而進(jìn)口設(shè)備價(jià)格昂貴，這些都嚴(yán)重限制了小型企業(yè)的發(fā)展。針對(duì)這種情況，研究?jī)r(jià)格低廉、高效實(shí)用的光學(xué)元件檢測(cè)設(shè)備成為一個(gè)迫切的課題。
　　 本文以柱面鏡母線(xiàn)垂直度測(cè)量樣機(jī)的研制為中心任務(wù)，采用一種光、機(jī)、電、算一體化的設(shè)計(jì)方案，利用FP

2、GA、ARM技術(shù)完成圖像數(shù)據(jù)采集及預(yù)處理，上位(PC)機(jī)完成處理結(jié)果的存儲(chǔ)管理與顯示，初步實(shí)現(xiàn)了元件的測(cè)試功能。
　　 主要工作包括：(1)設(shè)計(jì)了測(cè)試系統(tǒng)的光路結(jié)構(gòu)并推導(dǎo)了相關(guān)參數(shù)；(2)設(shè)計(jì)并組建了硬件系統(tǒng)平臺(tái)，完成了包括FPGA圖像采集、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)處理以及ARM網(wǎng)絡(luò)傳輸?shù)仍趦?nèi)的全部的硬件系統(tǒng)調(diào)試工作；(3)利用MFC編寫(xiě)了圖像綜合處理程序，顯示了圖像處理的整個(gè)流程；(4)研究了多種圖像處理算法，并進(jìn)行改良、優(yōu)化和移植，取得了良