關(guān)于倒置開(kāi)關(guān)可靠性的研究.pdf

1、本課題針對(duì)存儲(chǔ)測(cè)試技術(shù)對(duì)測(cè)試系統(tǒng)低功耗的要求，研制了微型脈沖供電式光電倒置開(kāi)關(guān)，該微型開(kāi)關(guān)是存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)電源控制的關(guān)鍵。在實(shí)際的存儲(chǔ)測(cè)試過(guò)程中，存在由于倒置開(kāi)關(guān)對(duì)測(cè)試系統(tǒng)不能正常上電控制而使測(cè)試實(shí)驗(yàn)失敗的例子，面臨測(cè)試實(shí)驗(yàn)的高成本，提高開(kāi)關(guān)可靠性是非常緊迫和必要的。
　　研究設(shè)計(jì)了一套開(kāi)關(guān)可靠性的檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)能滿(mǎn)足可靠性考核試驗(yàn)在高、低溫及常溫三種環(huán)境溫度條件下各進(jìn)行1000次以上、每次持續(xù)時(shí)間一分鐘倒置試驗(yàn)的要求，選用小功率

2、電機(jī)，帶動(dòng)倒置開(kāi)關(guān)模擬其工作過(guò)程，采集倒置開(kāi)關(guān)的各種信號(hào)，并對(duì)其進(jìn)行數(shù)據(jù)綜合分析。這種可靠性考核試驗(yàn)方法，為倒置開(kāi)關(guān)的驗(yàn)收和進(jìn)一步改良奠定了基礎(chǔ)，也為其他電子產(chǎn)品的可靠性研究提供一個(gè)新的思路。
　　本文主要闡述了以下幾個(gè)方面的問(wèn)題：
　　首先，介紹了微型脈沖供電式光電倒置開(kāi)關(guān)的研制背景和意義，闡述了設(shè)計(jì)過(guò)程及工作原理；詳細(xì)研究了開(kāi)關(guān)的各組成模塊，包括其中的機(jī)械部分結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、光電元器件的選擇、軟件部分的設(shè)計(jì)；描述了這種開(kāi)關(guān)的制

3、作步驟和需要注意的工藝問(wèn)題；針對(duì)倒置開(kāi)關(guān)不同信號(hào)的特點(diǎn)，提出檢測(cè)可靠性的總體方案和檢測(cè)系統(tǒng)的功能要求及性能指標(biāo)。
　　其次，提出和論證了一種新的可靠性試驗(yàn)研究的思路，研究了檢測(cè)系統(tǒng)的機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、硬件和軟件設(shè)計(jì)及實(shí)現(xiàn)，詳細(xì)介紹了不同信號(hào)的采樣策略、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)方式、工作狀態(tài)設(shè)計(jì)和具體的檢測(cè)電路；同時(shí)研究了計(jì)算機(jī)軟面板，重點(diǎn)介紹了其中的測(cè)試數(shù)據(jù)綜合分析功能。
　　最后，對(duì)微型脈沖供電式光電倒置開(kāi)關(guān)進(jìn)行了不同溫度環(huán)境下的人工性能測(cè)試