由硬盤磁頭載入載出引起的磁盤壞道的檢測方法.pdf

1、檢測由硬盤磁頭載入載出引起的磁盤壞道對于將斜坡支架作為磁頭停留區(qū)的硬盤產(chǎn)品來說是一項非常重要的測試。通過測試可以及時發(fā)現(xiàn)磁頭在載入載出的過程中對磁盤造成損傷的問題，避免此類問題硬盤流入市場導致用戶數(shù)據(jù)丟失的不良后果。目前由硬盤磁頭載入載出引起的磁盤壞道的檢測方法存在測試不合格率偏高的問題，已經(jīng)超出了產(chǎn)品設計的預期，給工廠造成巨大的經(jīng)濟損失。
　　 本文的研究目標是通過對不合格產(chǎn)品樣本的失效性分析，找出不合格率偏高的根本原因，并提

2、出切實可行的改進方案。首先分析了原本檢測由磁頭載入載出引起的磁盤壞道測試的方法及步驟；然后通過對不合格產(chǎn)品樣本的失效性分析，找到了造成不合格率偏高的根本原因，并為改進方案的設計提供了重要數(shù)據(jù)依據(jù)；接著針對原本測試方法誤判率過高的問題，結合工廠的實際情況，提出了切實可行的改進方案；最后對改進方案進行分階段驗證，保證了優(yōu)化后的測試方法順利投入到生產(chǎn)測試中使用。
　　 由磁頭載入載出引起的磁盤壞道的檢測方法，在確保測試時間沒有增加、產(chǎn)