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文檔簡介
1、該文圍繞光調(diào)制直接重寫磁光多層膜理論分析與測試方法,從理論和實驗上進行了深入、系統(tǒng)的研究.理論上,利用光學偏振原理,計算了除法式磁光信號檢測輸出與磁光克爾角的關系.利用瓊期矩陣對磁光存儲系統(tǒng)讀出信號部分光束的偏振態(tài)進行了分析,研究了系統(tǒng)中各種光學元件對磁光盤測試結果的影響.運用電磁場理論,計算了斜射光線對磁光薄膜克爾角、橢圓率及反射率等偏振特性的影響.實驗上,研制成功了磁光多層膜光強調(diào)制直接重寫記錄特性測試系統(tǒng),同時磁光信號檢測電路由傳
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