高壓二極管的反向恢復時間測試系統(tǒng).pdf

1、半導體器件體積小、壽命長,如今得到了非常廣泛的應用,它已成為現(xiàn)代電子技術(shù)的重要組成部分。利用PN結(jié)對正反向電流表現(xiàn)出的通斷特性,半導體二極管常在脈沖電路中作為開關(guān)使用。但二極管PN結(jié)中存在電容效應,若要正確地用做脈沖開關(guān),就必須了解二極管的反向恢復時間等重要參數(shù)。本文旨在設(shè)計一種測量范圍更廣、更實用、精度更高、成本也較低的高壓二極管反向恢復時間測試系統(tǒng)。
　　 首先,對二極管的反向恢復過程及相關(guān)應用進行了研究,指出二極管反向恢復

2、時間測試的必要性；比較了以往文獻提到過的幾種測試方案,分析了各自的優(yōu)缺點和本系統(tǒng)設(shè)計方案的實現(xiàn)目標,提出解決方案和測試注意事項,并將整個測試系統(tǒng)分為上位機和測試頭兩個部分來設(shè)計和說明。
　　 其次,將整個測試頭硬件系統(tǒng)分為TRR測試波形獲取電路、TRR脈沖截取轉(zhuǎn)換電路、信號上傳和模塊內(nèi)部電源三個部分來描述它們的設(shè)計情況,詳細介紹了每個模塊的電路及功能,討論了某些難點電路的設(shè)計,以及重要芯片和器件的選擇。
　　 第三,將上