非制冷焦平面在比色測(cè)溫系統(tǒng)應(yīng)用的研究.pdf

1、高溫物體表面的溫度場(chǎng)測(cè)量是工業(yè)界和理論界一直探索和研究的重要課題。在石化、冶金、電力等行業(yè)中，溫度是控制產(chǎn)品質(zhì)量的重要因素特別是由準(zhǔn)確控制加熱溫度，進(jìn)而優(yōu)化調(diào)整燃燒工藝所帶來的節(jié)能降耗和效益提升更是意義重大。通常高溫環(huán)境下測(cè)溫條件都很惡劣，現(xiàn)有的高溫測(cè)量技術(shù)很難準(zhǔn)確、實(shí)時(shí)、有效地測(cè)量出溫度。
　　 近年來，隨著紅外熱成像技術(shù)的不斷發(fā)展，借助數(shù)字圖像處理技術(shù)，面陣CCD成像技術(shù)和計(jì)算機(jī)編程技術(shù)，利用高溫下物體發(fā)光特性等各種技術(shù)相結(jié)

2、合的溫度場(chǎng)測(cè)量方法進(jìn)行一定的研究和探索。紅外比色測(cè)溫設(shè)備是根據(jù)Plank黑體輻射原理結(jié)合數(shù)據(jù)數(shù)字處理和機(jī)械傳動(dòng)等各種技術(shù)于一體的一套系統(tǒng)，系統(tǒng)可以實(shí)時(shí)、準(zhǔn)確、快速、非接觸測(cè)量出工件表面溫度，并能根據(jù)溫度變化情況控制各項(xiàng)溫度參數(shù)，提高產(chǎn)品的質(zhì)量和合格率。
　　 通過對(duì)比色測(cè)溫技術(shù)的分析，詳細(xì)對(duì)比色測(cè)溫系統(tǒng)的原理、整體架構(gòu)、系統(tǒng)構(gòu)成以及數(shù)據(jù)處理做了詳細(xì)的說明，特別對(duì)早期設(shè)備比色測(cè)溫系統(tǒng)不能很好解決低溫段測(cè)溫精確性，提出了一種行之有效