多標(biāo)簽超高頻RFID無漏識別技術(shù)研究.pdf

1、超高頻RFID以其讀取距離遠(yuǎn)、讀取速度快、可靠性高等技術(shù)優(yōu)勢，在物流、交通、館藏、電子票證等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。然而，在大規(guī)模的應(yīng)用中，超高頻 RFID不僅展現(xiàn)了其技術(shù)優(yōu)勢，也暴露了該項(xiàng)技術(shù)存在的缺陷。標(biāo)簽數(shù)據(jù)的正確無漏收集成為了影響超高頻RFID技術(shù)進(jìn)一步廣泛應(yīng)用的絆腳石。本文主要針對超高頻RFID無漏識別技術(shù)進(jìn)行相關(guān)的研究分析。
　　本文在分析了超高頻RFID無漏識別技術(shù)的國內(nèi)外研究進(jìn)展之后，依據(jù)超高頻RFID系統(tǒng)的關(guān)鍵性能指

2、標(biāo)，分析了影響超高頻RFID系統(tǒng)性能的主要因素；然后，針對部分關(guān)鍵因素進(jìn)行了詳細(xì)分析及實(shí)驗(yàn)；并且對于大量標(biāo)簽應(yīng)用的場景，設(shè)計(jì)了一種算法能夠?qū)崿F(xiàn)標(biāo)簽的無漏讀；最后，總結(jié)了影響超高頻RFID系統(tǒng)性能的關(guān)鍵問題以及進(jìn)一步的研究方向。本文的主要研究內(nèi)容如下：
　　首先，闡述了超高頻RFID無漏識別技術(shù)的研究背景及意義，然后對超高頻RFID無漏識別技術(shù)國內(nèi)外的研究方向及研究進(jìn)展進(jìn)行了討論。
　　第二，在介紹超高頻RFID系統(tǒng)的三個(gè)性能

3、指標(biāo)的基礎(chǔ)上，重點(diǎn)分析了影響超高頻RFID系統(tǒng)的性能的各種因素，簡單分析了各因素對系統(tǒng)性能的具體影響。
　　第三，依據(jù)具體實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)驗(yàn)證了讀寫器單天線盲點(diǎn)的存在，理論分析及通過具體實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了多天線的應(yīng)用能夠提高超高頻RFID系統(tǒng)的性能；針對多天線的應(yīng)用提出一種能夠提高系統(tǒng)效率的多天線盤存算法。
　　第四，針對大量標(biāo)簽、密集標(biāo)簽應(yīng)用，進(jìn)行了相關(guān)無漏識別算法的研究，首先通過建立數(shù)學(xué)模型，分析了標(biāo)簽數(shù)量對超高頻RFID系統(tǒng)性能的影響