高精度D-A數(shù)據轉換芯片測試方法的研究和改進.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、DAC的主要測試參數(shù)包括靜態(tài)參數(shù)(DNL，INL等)和動態(tài)參數(shù)(SNR，THD，SINAD，SFDR等)，高精度的DAC分別要求測試設備的電壓分辨率和動態(tài)范圍應該覆蓋超過芯片參數(shù)本身；當要求不能滿足時，測試得到的是設備自身精度而非芯片的參數(shù)，結果的準確性便得不到保證。
　　本課題主要的研究的預期思路是從現(xiàn)有的16位高精度D/A數(shù)據轉換芯片的測試入手，對于靜態(tài)參數(shù)，通過對每個數(shù)字輸入碼的對應模擬輸出施加不同臺階電平，并用高精度差分電

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