

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文檔簡介
1、近年來,隨著便攜式系統(tǒng)和無線通訊系統(tǒng)的迅速發(fā)展,電子產(chǎn)品的消費已經(jīng)轉(zhuǎn)移到射頻領(lǐng)域。這為SOI技術(shù)的應(yīng)用開辟了廣闊的前景:一方面,由于射頻領(lǐng)域的便攜式系統(tǒng)和無線通訊系統(tǒng)多數(shù)是使用電池作為能源的,因此降低系統(tǒng)功耗和驅(qū)動電壓就成為需要解決的首要問題。在這方面,SOI CMOS技術(shù)由于寄生電容小而成為解決功耗問題的一項關(guān)鍵技術(shù)。另一方面,射頻領(lǐng)域的發(fā)展要求集成水平和工作頻率提高,耦合噪聲問題變得更加關(guān)鍵。采用全氧隔離的SOI CMOS技術(shù)實現(xiàn)了
2、器件和基片之間的完全隔離,顯著降低了高頻RF和數(shù)字、混合信號器件之間的串?dāng)_現(xiàn)象,從而使耦合噪聲問題得到的很大改善。
本論文根據(jù)所承擔(dān)的上海市科委項目要求,參與制定了SOI CMOS電路與器件的設(shè)計規(guī)則,并繪制了版圖。在這一基礎(chǔ)上,參加了上海貝嶺公司的0.5um SOICMOS工藝平臺的建設(shè)。利用Silvaco軟件對SOI CMOS工藝進(jìn)行了模擬仿真。由于該公司SOI藝平臺在國內(nèi)屬特種工藝,因此本文所取得的仿真及研究成果對今
3、后的SOI CMOS工藝的改進(jìn)具有重要意義。
本文研究取得的結(jié)果如下:
1.詳細(xì)介紹了0.5um SOI CMOS的工藝流程,并利用Silvaco軟件對工藝進(jìn)行仿真。在仿真結(jié)果的基礎(chǔ)上,對貝嶺公司原有的0.5um體硅工藝進(jìn)行開發(fā)和改進(jìn),為國內(nèi)SOI CMOS工藝的研究與工藝生產(chǎn)線的建立提供了參考。
2.研究了SOI CMOS器件尤其是PD SOI MOS器件的特性和特殊結(jié)構(gòu),例如:T型柵,H型柵
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