平面近場(chǎng)測(cè)量和診斷技術(shù)的研究.pdf

1、本論文根據(jù)實(shí)際需要,對(duì)平面近場(chǎng)測(cè)量中的近-遠(yuǎn)場(chǎng)變換和近-口徑場(chǎng)變換算法以及遠(yuǎn)近場(chǎng)天線測(cè)試系統(tǒng)的建設(shè)作了深入研究.首先,闡述了平面波譜展開理論和探頭補(bǔ)償原理,推導(dǎo)出考慮探頭效應(yīng)的近-遠(yuǎn)場(chǎng)變換公式,重點(diǎn)分析了采樣參數(shù)和譜域離散參數(shù)的關(guān)系和選取準(zhǔn)則.然后,以半波陣子陣列天線為待測(cè)天線模型,通過(guò)數(shù)值方法求解天線的近場(chǎng)分布,再將近場(chǎng)數(shù)據(jù)代入近-遠(yuǎn)場(chǎng)變換公式,從而獲得天線的遠(yuǎn)場(chǎng)特性,仿真結(jié)果和理論值吻合良好,說(shuō)明了該算法的正確性和有效性.接著,在忽

2、略衰減波的前提下,給出了基于平面波譜的近-口徑場(chǎng)變換公式,借助仿真的天線近場(chǎng)數(shù)據(jù),恢復(fù)出待測(cè)天線的口徑場(chǎng),從而可確定陣列天線各單元的幅相分布,達(dá)到診斷天線口徑缺陷的目的.最后,在VC環(huán)境下,開發(fā)了天線近遠(yuǎn)場(chǎng)自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng).遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)可直接測(cè)量天線方向圖、增益等,同時(shí)通過(guò)處理方向圖數(shù)據(jù)又可獲得天線半功率寬度、第一副瓣位置及大小等參數(shù);近場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)可自動(dòng)采集天線近場(chǎng)數(shù)據(jù),然后通過(guò)近-遠(yuǎn)場(chǎng)變換即可獲得包含天線遠(yuǎn)場(chǎng)特性的全部信息,實(shí)測(cè)結(jié)果與理論