基于散射調制技術的近場測量方法研究.pdf

1、在天線的設計過程中，往往要測量天線的遠場輻射特性。近場測量技術提供了一種研究天線的方法，它能為研究工作提供足夠多的數(shù)據(jù)。而目前所使用的天線近測量方法速度慢，制約了天線近場測量技術的推廣應用。引入散射調制技術就是為了克服這個缺點。 通過采用探頭陣列，將近場測量中傳統(tǒng)的機械掃描轉變?yōu)殡姃呙?，克服掃描速度慢的缺點，大幅度提高近場測量的效率。該方法的實現(xiàn)關鍵在于采用了調制散射技術。探頭陣列的每個單元與近場測量的采樣點相對應，如果采用高頻

2、多路開關來對探頭的接收信號進行切換，多路開關各通道之間的串擾隔離很難做好。讓探頭陣列每個探頭工作在散射模式，并且把一個低頻源加在探頭上，對探頭的散射信號進行調制。通過低頻多路器順序調制探頭陣列的每一個探頭，并經(jīng)相干檢測我們可以區(qū)分不同探頭的Ⅱ向應，實現(xiàn)電掃描。由散射矩陣和互易定理可以證明探頭在被測點所產生的散射信號與被測點的電場分量成正比。 探頭單元和陣列形式是測量系統(tǒng)中最重要的部分。本文對散射調制技術在天線近場測量中應用的探頭