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1、ICF驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)大口徑光學(xué)元件加工質(zhì)量的檢測(cè)和評(píng)價(jià)工作是保證整個(gè)系統(tǒng)安全、正常、高效運(yùn)行的關(guān)鍵,該論文在光學(xué)元件的高精度檢測(cè)和評(píng)價(jià)方法上進(jìn)行了新的探索,提出在檢測(cè)中使用兩個(gè)新參數(shù)——功率譜密度及波前位相梯度.另外為了降低目前中國(guó)ICF系統(tǒng)光學(xué)元件檢測(cè)中過大的資金投入和不能滿足需要的低空間分辨率問題,提出了子孔徑拼接檢測(cè)方法這一解決方案.通過研究使得中國(guó)ICF光學(xué)元件質(zhì)量檢測(cè)從傳統(tǒng)的空域過渡到了與系統(tǒng)要求聯(lián)系更為緊密的頻域,同時(shí)建立了一套實(shí)
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