銀、氧化銅-二氧化硅納米復(fù)合薄膜的制備、結(jié)構(gòu)和光吸收性能研究.pdf

1、　　眾所周知，根據(jù)需要設(shè)計(jì)新的納米材料體系，特別是納米復(fù)合體系的設(shè)計(jì)和研究，已成為當(dāng)前納米科學(xué)技術(shù)和凝聚態(tài)物理研究的前沿和熱點(diǎn)，這方面的研究更強(qiáng)調(diào)按人們的意愿設(shè)計(jì)新的體系，更有目的地使該體系具有人們所希望的特性，因此，納米復(fù)合體系越來(lái)越受到人們的關(guān)注，在這其中，納米復(fù)合薄膜是一類具有廣泛應(yīng)用前景的納米復(fù)合材料，由于納米粒子的性能、工藝條件等參量的變化都對(duì)納米復(fù)合薄膜的性能有著顯著的影響，因此，可以在較多的條件下實(shí)現(xiàn)對(duì)其功能特性的調(diào)制。

2、　　本文以溶膠凝膠法制備銀、氧化銅/二氧化硅納米復(fù)合薄膜，采用X射線衍射儀對(duì)樣品的相組成進(jìn)行分析，比表面及孔隙分析儀表征介孔SiO2基體以及復(fù)合樣品的的孔結(jié)構(gòu)與孔徑分布，掃描電子顯微鏡觀察薄膜的表面形態(tài)，紫外-近紅外光譜儀進(jìn)行復(fù)合體系的光吸收測(cè)試，透射電子顯微鏡觀察樣品的組織形貌。針對(duì)溶膠凝膠法制備納米復(fù)合薄膜的影響因素做了詳細(xì)而全面的討論，系統(tǒng)地研究了各種因素對(duì)薄膜成膜質(zhì)量和溶膠穩(wěn)定性的影響，確定了每種因素對(duì)獲得理想結(jié)果的重要程度及每

3、種因素的最佳取值范圍，并給出了優(yōu)選方案和推薦最優(yōu)方案。對(duì)于銀/二氧化硅樣品，隨著處理溫度的升高和銀含量的增加，金屬銀顆粒尺寸逐漸增大，其等離子共振吸收峰強(qiáng)度升高，峰位向低能方向有明顯紅移，吸收峰的半高寬變窄，樣品的帶邊吸收隨著復(fù)合體系銀含量的增加和處理溫度的上升也會(huì)發(fā)生紅移。對(duì)于氧化銅/二氧化硅樣品，0.05CuO/SiO2在300℃，400℃，500℃處理后的光吸收譜的吸收邊，其光吸收數(shù)值可以用間接帶隙半導(dǎo)體光吸收邊公式來(lái)很好的擬合，