磁頭動態(tài)性能測試設(shè)備的改進(jìn)及測試夾具設(shè)計研究.pdf

1、隨著磁存儲技術(shù)的發(fā)展,磁碟單位面積的信息存儲容量越來越高,這就意味著磁軌密度的加大和磁頭讀寫頻率的提高,同時對磁頭動態(tài)測試設(shè)備的性能有了更高的要求.現(xiàn)有的測試設(shè)備在重復(fù)性(10nm)和穩(wěn)定性的性能上已經(jīng)滿足不了單位面積(1平方英寸)容量高于80GB的磁碟磁頭的動態(tài)測試要求.本文針對這個問題,開展了對磁頭動態(tài)測試設(shè)備系統(tǒng)的分析研究,著重通過改進(jìn)測試中磁碟振動和提高夾具整體設(shè)計性能,提高現(xiàn)有測試設(shè)備在測試過程中的重復(fù)性和穩(wěn)定性,達(dá)到滿足高容

2、量磁碟的磁頭的動態(tài)性能測試要求.本論文在簡單介紹現(xiàn)有測試設(shè)備的結(jié)構(gòu)及其工作原理的基礎(chǔ)上,主要從以下幾個方面進(jìn)行研究來改進(jìn)測試性能:1.分析了氣流對高速旋轉(zhuǎn)磁碟的影響.通過研究了降低氣流振動的方法,減少氣流對測試過程中磁碟振動的影響,保證了磁碟的平穩(wěn)轉(zhuǎn)動.2.分析了不同定位方式時磁頭定位誤差的大小,選用誤差小的定位方式,減小測試中磁頭的定位誤差.3.研究夾具系統(tǒng)在測試過程中的振動機(jī)理和抑制振動的方法.4.研究了提高夾具復(fù)位性和穩(wěn)定性的夾緊