雙能量X射線無損探測器的研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、目前X射線無損檢測方法包括單能量X射線檢測方法和雙能量X射線檢測方法。單能量X射線檢測方法是將單一能量的X射線穿透被測物體，利用不同物質(zhì)對X射線衰減不同，實現(xiàn)對物體的無損檢測。由于單能量X射線檢測是將被檢物體內(nèi)部同一檢測點的各物質(zhì)的影像疊加在一起，所以對復(fù)雜物體的成像質(zhì)量不高。雙能量X射線檢測方法是將高、低兩種能量的X射線穿透被測物體，利用不同物質(zhì)對不同能量X射線衰減系數(shù)不同，可以得到兩幅具有不同光密度分布的透射物體圖像，通過圖像處理，

2、能夠得到高質(zhì)量的被檢物體圖像。
　　 本文設(shè)計了一種X射線無損檢測系統(tǒng)中雙能量X射線無損探測器。分析了無損檢測技術(shù)及雙能量X射線檢測原理，提出了雙能量X射線探測器的設(shè)計方案；采用Xilinx公司FPGA芯片Spartan-3E設(shè)計了探測器硬件電路，包括ADC硬件電路、FPGA控制電路、X射線探測卡、電源電路等部分；利用FPGA嵌入式系統(tǒng)開發(fā)工具EDK，搭建了基于32位軟核處理器的嵌入式系統(tǒng)，設(shè)計了探測器的軟件，實現(xiàn)了對X光信號的

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