CCD芯片關(guān)鍵性能參數(shù)的測量系統(tǒng)及其測量方法設(shè)計.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、CCD是現(xiàn)代光電子技術(shù)發(fā)展中最重要的研究成果之一，作為一種重要的光電探測器件，它的各項性能參數(shù)在很大程度上決定了探測系統(tǒng)的性能。因此，在研制探測系統(tǒng)等應(yīng)用中，需要選擇合適性能參數(shù)的CCD芯片。但是，CCD生產(chǎn)廠家提供的性能參數(shù)指標(biāo)并不一定等于 CCD實際應(yīng)用中所需要的性能參數(shù)指標(biāo)。因此，需要設(shè)計研制出一套測量 CCD芯片性能參數(shù)的系統(tǒng)，進而測量其性能參數(shù)，以實現(xiàn)CCD芯片的篩選和性能的評估。
　　本文首先介紹了國內(nèi)外 CCD芯片性

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