CCD芯片量子效率和非均勻性參數(shù)測量.pdf

1、CCD(Charge coupled device)成像器件在軍事、工業(yè)、民用、科研等領(lǐng)域應(yīng)用極其廣泛。作為一種對各領(lǐng)域發(fā)展具有重要意義的光電成像器件，其在實(shí)際應(yīng)用中表現(xiàn)出的性能參數(shù)，對用戶而言，往往比生產(chǎn)廠商提供的像素等指標(biāo)更具有參考價(jià)值。如何選擇滿足應(yīng)用需求的成像器件，如何量化評估成像器件的工作表現(xiàn)，如何為種類繁多的CCD成像器件進(jìn)行品級劃分和性能篩選，針對這些需求，國內(nèi)外對CCD成像器件性能參數(shù)測量系統(tǒng)的研究正在如火如荼地進(jìn)行。結(jié)

2、合我國“核高基重大專項(xiàng)”重點(diǎn)發(fā)展方向，高精度 CCD成像器件關(guān)鍵性能參數(shù)測量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和研制迫在眉睫。
　　本研究主要內(nèi)容包括：⑴在研究分析CCD成像器件主要性能參數(shù)定義和國內(nèi)外公知測量標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上，提煉出針對量子效率和非均勻性等參數(shù)的測量方法。⑵結(jié)合實(shí)驗(yàn)室環(huán)境，設(shè)計(jì)了一套集氙燈光源、三光柵單色儀、積分球、暗室、標(biāo)準(zhǔn)探測模塊、參數(shù)自動化計(jì)算軟件等為一體的CCD成像器件量子效率和非均勻性參數(shù)測量系統(tǒng)。⑶利用標(biāo)準(zhǔn)替代的實(shí)驗(yàn)思想，將測量