質(zhì)子輻照GaAs-AlGaAs太陽能電池電學(xué)特性研究.pdf

1、本文研究了質(zhì)子輻照GaAs太陽能光電池的電學(xué)特性。通過深能級(jí)瞬態(tài)譜(DLTS),電流-電壓(IV),電容-電壓(CV)測試,并配合SRIM理論模擬,對(duì)不同能量的質(zhì)子輻照造成的電池?fù)p傷特性進(jìn)行了研究。其主要結(jié)果如下:
　　 1、通過對(duì)輻照樣品進(jìn)行IV測試,發(fā)現(xiàn)對(duì)于不同能量(40,70,100,170,4000keV),相同輻照強(qiáng)度的質(zhì)子輻照樣品,100keV質(zhì)子輻照樣品損傷最嚴(yán)重,而40keV和4MeV質(zhì)子輻照相應(yīng)造成的損傷較小。

2、對(duì)于相同能量,不同輻照強(qiáng)度的質(zhì)子輻照樣品,隨輻照強(qiáng)度增大,電池?fù)p傷加劇。通過SRIM理論模擬,得出不同能量質(zhì)子輻照在電池內(nèi)造成的空位分布,通過空位分布可以看到,100keV質(zhì)子造成的空位都集中在PN結(jié)區(qū)域。而40keV和4MeV質(zhì)子輻照造成的空位分別集中在電池的窗口層以及電池的背面。通過SRIM模擬圖可以看出缺陷在電池內(nèi)的分布造成的影響。
　　 2、通過DLTS測試,測得質(zhì)子輻照產(chǎn)生的缺陷的激活能,缺陷濃度等參數(shù)。從DLTS的測

3、量結(jié)果可以看出100keV質(zhì)子產(chǎn)生的缺陷最多,40keV,4MeV質(zhì)子輻照產(chǎn)生的缺陷信號(hào)非常小,這是因?yàn)橛肈LTS測量只能探測到PN結(jié)區(qū)域的缺陷,而通過SRIM模擬可以看到,40keV,4MeV質(zhì)子產(chǎn)生的缺陷在PN結(jié)區(qū)域沒有分布,因此在后面的對(duì)比中,我們主要考慮70,100,170keV質(zhì)子輻照造成的缺陷分布。
　　 3、對(duì)傳統(tǒng)的DLTS求缺陷分布公式作出修正,得到了不同能量質(zhì)子輻照在pn結(jié)產(chǎn)生的缺陷濃度分布。通過改變DLTS實(shí)