電離層頻高圖數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf

1、電離層探測(cè)技術(shù)起始于上世紀(jì)的20年代,從探測(cè)方法上主要分為直接探測(cè)和間接探測(cè),電離層垂直探測(cè)作為間接探測(cè)的主要方法,多年來一直都是探測(cè)電離層的重要手段之一。而通過該方法獲取的回波信號(hào)數(shù)據(jù)對(duì)于電離層的研究與監(jiān)測(cè)有著重要的意義。該方法使用測(cè)高儀器向上垂直發(fā)射頻率隨時(shí)間連續(xù)變化的脈沖信號(hào),并在同一地點(diǎn)接收這些脈沖波被電離層反射的回波信號(hào),測(cè)量出電波往返的傳遞時(shí)間,從而獲得反射高度與頻率的相關(guān)數(shù)據(jù),根據(jù)這些數(shù)據(jù)所描繪出的關(guān)系曲線叫做頻高圖或電離

2、圖。
　　本文首先介紹了電離層探測(cè)的發(fā)展歷史,探測(cè)原理,然后較為詳細(xì)地介紹了自主研發(fā)的電離層垂直測(cè)高儀的硬件和軟件系統(tǒng)。在此基礎(chǔ)上,通過學(xué)習(xí)國外電離層探測(cè)數(shù)據(jù)處理軟件,在Windows平臺(tái)下以Visual Studio 2010作為開發(fā)環(huán)境,C＃作為編程語言,設(shè)計(jì)出了一套電離層頻高圖數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。該針對(duì)數(shù)據(jù)處理的功能需求,設(shè)計(jì)出系統(tǒng)的整體框架,并給出相應(yīng)功能的實(shí)現(xiàn)方法。系統(tǒng)采用多模塊的架構(gòu)方法,邏輯上分為數(shù)據(jù)讀取,數(shù)據(jù)分析,數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)

3、換,數(shù)據(jù)顯示以及擴(kuò)展功能等模塊。在數(shù)據(jù)讀取、數(shù)據(jù)分析處理模塊中采用多線程、緩存區(qū)等編程技術(shù)來提高系統(tǒng)人機(jī)交互的友好性。在數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換模塊中實(shí)現(xiàn)現(xiàn)有數(shù)據(jù)格式與自定義二進(jìn)制文件格式的相互轉(zhuǎn)換,將電離層探測(cè)信息按照不同的需求保存在大容量磁盤中。在數(shù)據(jù)的繪制與顯示模塊中利用GDI+基本圖形功能與Graphics類來實(shí)現(xiàn)對(duì)顯示設(shè)備的訪問,并采用雙緩沖等繪圖技術(shù)消除界面閃爍,提高系統(tǒng)穩(wěn)定性。
　　系統(tǒng)運(yùn)行結(jié)果表明該系統(tǒng)能與自主研發(fā)的探測(cè)系統(tǒng)以及探