電連接器環(huán)境應(yīng)力可靠性試驗統(tǒng)計分析.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、雖然人們對電子產(chǎn)品可靠性的要求越來越高，而企業(yè)又不可能僅為追求高的可靠性，而忽視成本的考慮。執(zhí)行可靠性試驗需要大量的人力物力以及資金的投入，全因素試驗設(shè)計固然能近乎完美的完成，但不僅會浪費大量的資金，而且在時間上也會來不及。影響電連接器可靠性的因素有很多，限于時間和資金的限制，又不可能全部都執(zhí)行，那么如何設(shè)計可靠性試驗方案以及如何實施可靠性試驗就顯得尤為重要。
　　 本文以公司重點產(chǎn)品DOUBLE DATA RAM(DDR)電連

2、接器在A客戶處發(fā)生的異常而引出可靠性問題為契機，從幾個方面進(jìn)行了深入的解析：分析了電連接器的幾個主要失效模式，并建立了魚骨圖和故障樹；確定接觸失效是電連接器的主要失效模式，對在三個應(yīng)力作用下的接觸失效機理分別進(jìn)行了探討，并建立了可靠性模型；提出并研究了電連接器在環(huán)境溫度、濕度和振動應(yīng)力綜合作用下的加速壽命試驗方案的優(yōu)化設(shè)計模型；應(yīng)用均勻設(shè)計理論對環(huán)境溫-濕度和振動應(yīng)力的應(yīng)力水平值進(jìn)行合理搭配，得到一組較優(yōu)的加速壽命試驗方案；執(zhí)行試驗方案

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