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文檔簡介
1、隨著大規(guī)模集成電路的迅速發(fā)展，專用集成電路正朝著系統(tǒng)集成的方向發(fā)展，這類系統(tǒng)通常既包含數(shù)字電路又包含模擬電路。對于數(shù)字電路而言，人們可以利用基于硬件描述語言的邏輯綜合工具對其進(jìn)行迅速可靠的綜合，而模擬電路仍然由模擬電路專家們手工設(shè)計完成的?；谏鲜鲈?，目前迫切需要對模擬集成電路的設(shè)計方法進(jìn)行改進(jìn)。 本論文主要研究了CMOS運算放大器的電路級綜合方法問題。 首先分析了基于模擬和基于方程的電路性能評估技術(shù)。提出了“層次式分
2、解+基于規(guī)則”的拓?fù)渚C合方法，即采用層次式分解法的思想構(gòu)建了一個具有24種有效拓?fù)涞腃MOS運放拓?fù)鋷欤欢谶M(jìn)入優(yōu)化階段時采用基于規(guī)則的方法從所構(gòu)建的拓?fù)鋷熘羞x擇最佳電路拓?fù)溥M(jìn)行器件尺寸的優(yōu)化。 其次用準(zhǔn)精確懲罰函數(shù)法構(gòu)造出代價函數(shù)，并作為改進(jìn)自適應(yīng)遺傳算法的適應(yīng)度函數(shù)，從而將模擬集成電路的電路級綜合問題映射成無約束最大化問題。 再次，在詳細(xì)分析模擬退火法和遺傳算法的基礎(chǔ)上，提出了一種新的數(shù)學(xué)優(yōu)化算法——改進(jìn)自適應(yīng)遺傳算
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