基于糾錯碼的VLSI數(shù)據(jù)路徑自檢測設(shè)計及其芯片實現(xiàn).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著數(shù)字系統(tǒng)的廣泛使用和復(fù)雜性急劇提高，系統(tǒng)運行的可靠性問題越來越引起人們的注意。提高可靠性的一個重要措施是“屏蔽”故障影響的故障冗余(容錯)技術(shù)，雖然這種做法也要增加硬件和軟件的開銷，但因其可靠性高，引起人們的很大興趣。同時我們知道超大規(guī)模集成電路中的數(shù)據(jù)錯誤大多數(shù)是單向的，學(xué)者們提出了許多編碼來檢測這樣的錯誤。為了評價這些編碼的檢錯能力，全自檢電路的概念被提出來并被證明是十分有效的。這種電路能夠像檢測固定型故障一樣實時檢測偶發(fā)性故障

2、。 本文首先介紹了容錯的基本理論和全自檢電路的基本結(jié)構(gòu)，給出Bose-Lin碼的常用算法，提出了改進(jìn)的Bose-Lin碼并行算法，并分析其延時。接著介紹了TRC的原理，給出了TRC<,2>的基本結(jié)構(gòu)，對于n≥3時采用TRC樹的方法。然后應(yīng)用Bose-Lin碼實現(xiàn)了簡單功能的組合電路檢錯和糾錯設(shè)計，并在OUARTUSⅡ 6.0上進(jìn)行了功能仿真。采取在數(shù)據(jù)輸入輸出端加兩個緩存的方法，在電路出現(xiàn)故障時系統(tǒng)重新工作一次以實現(xiàn)糾錯。為了方

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