組合電路測(cè)試生成算法研究.pdf

1、集成電路是在硅板上集合多種電子元器件實(shí)現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中最重要的部分，承擔(dān)著運(yùn)算和存儲(chǔ)的功能。集成電路的應(yīng)用范圍覆蓋了軍工、民用的幾乎所有的電子設(shè)備。可以說(shuō)集成電路是計(jì)算機(jī)業(yè)、數(shù)字家電業(yè)、通信等行業(yè)的絕對(duì)“心臟”。 隨著微電子技術(shù)的發(fā)展，集成電路的規(guī)模越來(lái)越大，結(jié)構(gòu)越來(lái)越復(fù)雜，集成電路的測(cè)試生成變得越來(lái)越難，花費(fèi)的時(shí)間也越來(lái)越多。對(duì)于大規(guī)模的集成電路，傳統(tǒng)的測(cè)試生成算法已不再適用，尋找新型、有效的測(cè)試生成算

2、法已成為一個(gè)重要的研究課題。 組合電路單固定型故障模型是國(guó)際上研究最早，也是采用最普遍的故障模型。實(shí)踐表明，只要單固定型故障的覆蓋率達(dá)到90[％]以上，那么單固定型故障的測(cè)試集也能檢測(cè)其它類(lèi)型的故障，例如多故障和橋接故障。又因?yàn)橄到y(tǒng)在調(diào)試階段發(fā)生多故障的概率較大，但在使用階段發(fā)生單固定型故障的可能性要大得多，因此，單固定型故障的測(cè)試生成問(wèn)題一直是國(guó)際上研究的熱點(diǎn)。從理論上講，單固定型故障的測(cè)試生成問(wèn)題早在六十年代就己經(jīng)解決了。然

3、而，理論分析證明，自動(dòng)測(cè)試生成的時(shí)間復(fù)雜性是個(gè)NP完全問(wèn)題。隨著電路規(guī)模的增大，測(cè)試生成越來(lái)越困難。因此，加速測(cè)試生成，提高測(cè)試生成效率一直為人們所關(guān)注。 本文采用單固定型故障模型，對(duì)組合電路的測(cè)試生成進(jìn)行了研究。以提高故障覆蓋率和減小測(cè)試生成時(shí)間為主要目標(biāo)，重點(diǎn)研究了以下內(nèi)容： 1．綜述了測(cè)試生成技術(shù)的研究現(xiàn)狀和發(fā)展概況。 2．研究了組合電路中非魯棒性路徑時(shí)滯故障的測(cè)試生成算法。本文將采用路徑分支轉(zhuǎn)換技術(shù)，

4、用較成熟的單固定型故障測(cè)試生成算法對(duì)組合電路中非魯棒性路徑時(shí)滯故障生成測(cè)試矢量，該算法能夠避免“指數(shù)爆炸”，提高故障覆蓋率，減小測(cè)試生成時(shí)間，改善測(cè)試生成效率。 3．研究了組合電路基于搜索狀態(tài)控制的測(cè)試生成算法。EST算法第一次提出了測(cè)試矢量搜索狀態(tài)的概念，并采用E-前沿來(lái)描述測(cè)試矢量搜索的不同狀態(tài)。通過(guò)引入狀態(tài)等價(jià)的概念，縮小了測(cè)試碼搜索空間。本文通過(guò)對(duì)搜索狀態(tài)等價(jià)的研究，得出了基于搜索狀態(tài)控制的測(cè)試生成算法。該方法應(yīng)用E-