基于LabVIEW的IRFPA器件測(cè)試與評(píng)價(jià)技術(shù).pdf

1、紅外焦平面陣列器件是紅外熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵部件，目前不僅在軍事領(lǐng)域已經(jīng)得到了廣泛應(yīng)用，在民用領(lǐng)域也擁有著巨大的市場(chǎng)潛力和應(yīng)用前景。近年來(lái)，隨著紅外焦平面陣列技術(shù)的發(fā)展，對(duì)紅外焦平面陣列探測(cè)器的參數(shù)測(cè)試和性能評(píng)價(jià)也有了更高的要求。本文圍繞紅外焦平面陣列探測(cè)器的性能參數(shù)測(cè)試方法開展研究工作。
　　 本文主要做了如下工作：
　　 1、對(duì)紅外熱成像技術(shù)和紅外焦平面陣列技術(shù)的原理及其發(fā)展現(xiàn)狀進(jìn)行了比較全面的分析研究，并對(duì)國(guó)內(nèi)外在紅外

2、焦平面陣列測(cè)試上的差距做出了比較。
　　 2、詳細(xì)分析了紅外焦平面陣列探測(cè)器的工作條件和性能參數(shù)，并對(duì)各種性能參數(shù)的測(cè)試方法進(jìn)行了闡述。
　　 3、結(jié)合以上所分析研究的紅外焦平面陣列的測(cè)試方法，提出并實(shí)現(xiàn)了一種基于LabVIEW的對(duì)紅外焦平面陣列器件性能參數(shù)測(cè)試的系統(tǒng)方案。針對(duì)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)過程中遇到的問題，提出了在LabVIEW環(huán)境下的具體解決辦法，其中還提出了紅外焦平面陣列的盲元檢測(cè)的新方法并結(jié)合實(shí)際測(cè)試結(jié)果進(jìn)行了討論