一種組合式AFM系統(tǒng)的設計與實現(xiàn).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著社會對納米科學技術的日漸重視和關注，掃描探針顯微鏡(SPM)在近30年的時間里有了突飛猛進的發(fā)展，在表面科學、生命科學、材料科學等研究領域都有重大的意義和廣闊的應用前景。原子力顯微鏡(AFM)作為掃描探針顯微鏡家族的一員，更是納米技術發(fā)展的重要基礎，也是納米科技工作者必不可少的研究工具。
　　 AFM的應用領域最為廣泛，它可以在大氣、液體等多種環(huán)境下對導體、半導體、絕緣體等多種材料進行觀測，適應性很強。目前原子力顯微鏡的發(fā)展

2、趨勢呈現(xiàn)出功能的復合化，利用AFM不僅可以直接觀察物質表面的納米級形貌，也能進行一定程度的納米加工，甚至還可以實現(xiàn)微納米結構的力學性能測試以及生物材料研究等特殊功能。也正是因此，AFM在科學研究領域的需求非常大，研制新型的多功能原子力顯微鏡是當下眾多科技工作者的重要任務。對比商業(yè)化AFM儀器，自行組合的AFM系統(tǒng)具有較好的開放性和靈活性，不但能降低AFM的制造成本，還有助于AFM擴展功能的應用。本研究主要內容包括：
　　 ⑴研究

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