基于JTAG協(xié)議的離線編程技術在智能儀表中的應用.pdf

1、隨著工藝水平的提高，電子系統(tǒng)的集成度越來越高，因此產(chǎn)品在設計過程中要充分考慮到元件、信號測試問題，對于嵌入式系統(tǒng)需要調試時能觀察和控制芯片內部邏輯、狀態(tài)，正常工作時調試通道不影響芯片工作，普通電路內部測試方法已經(jīng)無法滿足實際需求了，因此邊界掃描測試方法誕生了。
　　 1985年，聯(lián)合測試行動組JTAG制定了JTAG邊界掃描測試技術，邊界掃描技術符合IEEE1149.1標準。邊界掃描設計利用簡單的信號總線，實現(xiàn)了對電子系統(tǒng)進行電路

2、連接檢測、芯片內部邏輯觀測、斷點測試、在線編程等功能，其降低了電子系統(tǒng)調試、測試的難度、節(jié)約了開發(fā)成本、加快上市速度。
　　 JTAG邊界掃描通過對邊界掃描單元進行移位把數(shù)據(jù)以串行方式輸入測試電路，數(shù)據(jù)以串行方式從測試電路輸出。因此只需少數(shù)接口即可完成信號傳輸，減少了對測試電路硬件資源的占用。JTAG邊界掃描測試一般使用交叉調試，測試代碼在上位機生成，通過數(shù)據(jù)總線傳輸?shù)絁TAG調試器，經(jīng)過調試器譯碼產(chǎn)生JTAG控制信號對測試電路

3、進行邊界掃描、邏輯測試對芯片上寄存器和存儲器進行訪問、觀察、操作，當芯片處于正常工作狀態(tài)時，邊界掃描寄存器對芯片來說是透明的，并不影響芯片內部電路運行和通信，通過使用離線編程的概念使對片上FLASH操作無需上位機即可操作。
　　 本文通過對JTAG邊界掃描技術的研究、分析并設計了邊界掃描測試軟核功能函數(shù)、離線編程器硬件電路，通過實驗驗證了JTAG邊界掃描基本功能函數(shù)包括時鐘輸入、模式驅動、數(shù)據(jù)輸入、數(shù)據(jù)讀出等函數(shù)的功能，同時取得