Cr、Mn摻雜AlN和GaN半金屬性質(zhì)的第一性原理研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、自旋電子學(xué)是一門最新發(fā)展起來的涉及磁學(xué)、電子學(xué)以及信息學(xué)的交叉學(xué)科,它同時利用電子的電荷和自旋來進行信息的存儲和處理。自旋電子器件與普通半導(dǎo)體電子器件相比具有非易失性、低功耗和高集成度等優(yōu)點。目前的關(guān)鍵問題之一是要尋找具有高自旋極化率、高居里溫度的自旋電子材料。而AlN和GaN半導(dǎo)體具有較寬的帶隙,通過摻雜過渡金屬(Cr、Mn等)可以得到較高的居里溫度和高自旋極化率(100%)的半金屬材料,因此,AlN和GaN基稀磁半導(dǎo)體(半金屬)在自

2、旋電子學(xué)領(lǐng)域具有重要的應(yīng)用價值。
   本文采用基于密度泛函理論(DFT)的第一性原理方法,計算Cr、Mn替代式摻雜纖鋅礦和閃鋅礦AlN和GaN的能帶結(jié)構(gòu)和態(tài)密度等性質(zhì),系統(tǒng)研究Cr、Mn摻雜AlN和GaN的半金屬磁性機理,分析摻雜濃度對半金屬能隙的影響,得到的主要結(jié)果如下:
   (1)Cr(Mn)-AlN具有比較寬的半金屬能隙,而Cr(Mn)-GaN的半金屬能隙相對較小。主要原因是GaN比AlN的半導(dǎo)體能隙小,而且C

3、r(Mn)-GaN的自旋向下子帶受Ga-4s和Ga-4p軌道影響較大,并向費米能級展寬,導(dǎo)致其半金屬能隙比較小。
   (2)同等摻雜濃度下,Mn-Al(Ga)N比Cr-Al(Ga)N的半金屬能隙大。這是因為Mn的d態(tài)能級比Cr低,Mn-3d與N-2p雜化更強,導(dǎo)致自旋交換劈裂更大,因此Mn-Al(Ga)N的自旋向下子帶相對遠離費米能級,使其半金屬能隙較大。
   (3)對于纖鋅礦和閃鋅礦Cr(Mn)-AlN,Cr(Mn

4、)-3d態(tài)對自旋向下子帶導(dǎo)帶底的能量位置起決定作用,即決定半金屬能隙的大小。在6.25%~25%的摻雜濃度范圍內(nèi),隨著摻雜濃度的增大,Cr(Mn)-AlN的半金屬能隙逐漸減?。豪w鋅礦Mn-AlN的半金屬能隙從1.49eV減小到0.95eV,閃鋅礦Mn-AlN的半金屬能隙從1.56eV減小到1.08eV,纖鋅礦Cr-AlN的半金屬能隙從1.13eV減小到0.79eV,閃鋅礦Cr-AlN的半金屬能隙從0.69eV減小到0.56eV。主要原因

5、是隨著摻雜濃度的增大,Cr(Mn)原子間相互作用增強,Cr(Mn)-3d態(tài)向兩邊展寬,導(dǎo)致自旋向下子帶導(dǎo)帶底的能量位置下降,從而半金屬能隙變窄。而對于纖鋅礦和閃鋅礦Cr(Mn)-GaN,決定其半金屬能隙的自旋向下子帶主要來自Cr-3d、N-2p雜化,同時受Ga-4s、Ga-4p軌道影響較大,在摻雜濃度增大時,Cr(Mn)原子之間的相互作用對半金屬能隙的影響不夠明顯。因此,Cr(Mn)-GaN的半金屬能隙隨摻雜濃度的變化比較小。在6.25

6、%~25%的摻雜濃度范圍內(nèi),纖鋅礦Mn-GaN的半金屬能隙在0.85~0.71eV之間,閃鋅礦Mn-GaN的半金屬能隙在0.74~0.65eV之間,纖鋅礦和閃鋅礦Cr-GaN的半金屬能隙在0.2eV左右,都與摻雜濃度的關(guān)系不大。
   本文的計算結(jié)果和已有的研究結(jié)果符合得比較好,說明我們的計算方法是可靠和可行的。另外我們還得出了一些新的計算結(jié)果和新規(guī)律,并嘗試做出解釋。雖然這些還有待理論或?qū)嶒炆系尿炞C,但對于進一步研究AlN和G

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