直流高電場下PET薄膜的電致發(fā)光和電流測試.pdf

1、電致發(fā)光是將電能直接轉(zhuǎn)換成光能的現(xiàn)象，它與空間電荷有密切聯(lián)系。電致發(fā)光有助于理解絕緣聚合物中電荷注入、傳輸和存儲，解釋電老化的閾值和耗散機制的研究，也能為監(jiān)控老化率提供依據(jù)。由于高電場電致發(fā)光裝置較復雜，至今國際上無商品化產(chǎn)品。哈爾濱理工大學在國家自然科學基金重點項目的資助下，在國內(nèi)率先制成了極高電場下電致發(fā)光測量裝置。 本文利用該裝置測試了聚對苯二甲酸乙二酯(PET)在直流高電場下的電致發(fā)光光強、光譜和相應的電流。實驗表明：P

2、ET的發(fā)光光強隨所加電場的增加而增大，外加電場強度小于約2.0MV/cm.時EL強度與背景噪聲相近，當外加電場強度大于約2.0MV/cm時EL強度隨場強逐漸增大，當場強接近及大于3.5MV/cm時EL強度快速增加，場強繼續(xù)增加，出現(xiàn)擊穿。PET的電致發(fā)光過程中的電流基本上隨所加電場的增加而增大，電流閾值在2.0MV/em附近。2.0MV/cm附近很可能標志著PET。薄膜老化的開始，3.5MV/cm附近很可能標志著預擊穿的開始。光譜在30

3、0～400nm、400～460nm、500～600nm和680nm附近存在峰帶，其中500～600nm峰帶相對較強，預擊穿信號出現(xiàn)后680nm附近的峰帶增加很快。為了評價PET的介電性能，本文對實驗數(shù)據(jù)用雙參數(shù)Weibull分布解析法計算，得出了該薄膜在(24+1)℃，階躍加壓條件下的壽命和擊穿電場的累積失效概率及可靠度方程，Weibull假設檢驗結(jié)果表明實驗結(jié)果服從Weibull分布，算得其中值壽命為409.2min，中值擊穿場強3.