
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1、蘇州大學(xué)碩士學(xué)位論文GeSiO薄膜的光致發(fā)光和電致發(fā)光及其機理研究姓名:董業(yè)民申請學(xué)位級別:碩士專業(yè):凝聚態(tài)物理指導(dǎo)教師:姚偉國吳雪梅2001.4.1tAbstractInthiSdissertation,thepropertiesofphotoluminescence(PL)andelectr01uminescence(EL)fromGe—SiO,thinfiimsandmechanismsof1ightemiSSionhavebee
2、nstudiedGe—Si0。thinfilmsweredepositedonSisubstratesbyradiofrequencymagnetronsputteringtechniqueWithaGe—Si02compositetargetFilmswereannealedinN。ambiencefor30minatdifferenttemperatureThemicrostuctureoffiimswerecharacterize
3、dbyseveralanalysiStechniques,suchasXRD,TEM,F(xiàn)TIR,XPSandSOonWhenannealedattemperaturehigherthan600℃,Genanocrystals(nc—Ge)appearedinfiimsAndtheyincreasedfrom39to61nmwiththeincreaseofannealingtemperaturefrom600℃to1000℃Underu
4、ltrayioletexcitation,a11samplesemitastrongvioletbandcenteredat394nmWiththeformationofnc—Ge,thesamplesexhihitanotheremissionoforangebandwiththepeakat580nmanditSintensityincreaseswiththeincreasingSizeofnc—GeAnalyticalresul
5、tsindicatethatthevioletbandcomesfromGeOdefectandtheorangebandoriginatesmainlyfromtheluminescencecentersattheinterfacebetweenthenc—GeandSi0。matriXELdeviceswerefabricatedbasedon20一nmthicknessGe—SiO,filmsandtheirstructuresa
6、reAu/Ge—Si02/p—SiandAu/Ge—Si02/n—SiForcomparison,Au/Si—SiO/p—SiStructureswerealSOmadeForAu/GeSiO/p—SiandAu/Si—Si02/p—Sistructures,theyemitELpeakedat5lOnmwhenforwardbiasesweregreaterthan6Vand65V,respectively,whilenodetect
7、able1ightemissioncanbeobservedunderreversebiasButforAu/GeSiO,/n—Sistructure,ELcanbeobtainedonlyunderreversebiasTheELiSstableandreproducibleandcanbeseenbynakedeyeTheresultssuggestthatthegenerationofcarriersresultfrombipol
8、arinjectionandimpactionizationbyhotelectronsforELunderforwardandreversebias,respectivelYA1thoughtheprogressesofcarrier’sgenerationaredifferentforthesetWOkindsofEL,therecombinationofcarriersiSmainlyvialuminescencecentersi
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