Low-E膜反應(yīng)器位移測量系統(tǒng)的研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、當(dāng)前測量技術(shù)正向高精度、高效率和自動化方向發(fā)展。位移的非接觸測量是測量技術(shù)研究的重要內(nèi)容之一。本文介紹了幾種常用的非接觸位移測量方法、PSD的研究現(xiàn)狀和發(fā)展趨勢,分析了傳統(tǒng)光學(xué)三角法的缺陷,采用光學(xué)差動測量法設(shè)計了基于PSD的Low-E膜反應(yīng)器位移測量系統(tǒng)。深入探討了本測量系統(tǒng)的工作原理和PSD信號處理電路,通過實驗驗證了系統(tǒng)的精度并分析了誤差產(chǎn)生的原因。 本文研究內(nèi)容包括以下幾個方面: 1.分析了光學(xué)三角法的原理。針對

2、光學(xué)三角法固有的缺陷,設(shè)計了光學(xué)差動測量方法。 2.在光學(xué)三角法的基礎(chǔ)上發(fā)展了光學(xué)差動測量法,建立了數(shù)學(xué)模型,并做了實驗驗證。 3.設(shè)計了測量系統(tǒng)的硬件,對硬件組成進行了介紹。詳細探討并設(shè)計了兩種PSD信號處理電路設(shè)計方案。改進了直流放大型的PSD信號處理電路,采用采樣-保持的方法用以消除暗電流和背景光的影響,用軟件代替硬件實現(xiàn)信號的加法、減法和除法,以提高穩(wěn)定性。 4.基于ADuC832數(shù)字系統(tǒng)平臺開發(fā)了系統(tǒng)軟

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