運(yùn)算放大器及電壓比較器失調(diào)電壓測試方法的研究.pdf

1、在運(yùn)放的失調(diào)電壓參數(shù)測試中，傳統(tǒng)測試設(shè)備采用“被測器件-輔助運(yùn)放”的模式，籍以構(gòu)成穩(wěn)定的負(fù)反饋網(wǎng)絡(luò)，從而使被測運(yùn)放的輸出電壓嵌位于預(yù)置值，而ASL1000通過獨(dú)創(chuàng)的電位平衡電路和相位補(bǔ)償電路，同樣實(shí)現(xiàn)了被測器件的輸出嵌位，完成了由間接測試向直接測試的轉(zhuǎn)化。但是，由于其最大的測試量程為lOOmV，對于失調(diào)電壓絕對值大于100mV的失效芯片，即使取最小的放大倍數(shù)，放大后的電壓也將超出ADC的輸入范圍，從而使測值呈混亂狀態(tài)，失效芯片有可能被誤

2、判為“合格”。 根據(jù)失效芯片所在的測試回路不可能達(dá)到平衡的原理，本文提出了打破常規(guī)測試思路，重新整合ASL1000的現(xiàn)有硬件資源，通過將待測芯片的輸出電壓與理論電壓相比較，作為被測運(yùn)放的失效判據(jù)，并使其優(yōu)先級高于常規(guī)測試判據(jù)的篩選方法，從而成功堵上了這個易被疏忽的“漏洞”，實(shí)踐證明該方法有效可行。 由于ASL1000沒有專用的比較器測試模塊，對比較器失調(diào)電壓的測試，無法采用傳統(tǒng)的閉環(huán)測試模式。論文設(shè)計(jì)的方法是利用該設(shè)備的