數(shù)碼相框芯片測(cè)試方案的開(kāi)發(fā)及優(yōu)化.pdf

1、現(xiàn)代社會(huì),集成電路是信息產(chǎn)業(yè)和高新技術(shù)的核心,是推動(dòng)國(guó)民經(jīng)濟(jì)和社會(huì)信息化的關(guān)鍵技術(shù)之一。集成電路的設(shè)計(jì)和工藝制造產(chǎn)業(yè)的飛速發(fā)展也為集成電路的測(cè)試提出了更高的要求。對(duì)于新產(chǎn)品來(lái)說(shuō),如何縮短產(chǎn)品從生產(chǎn)到投入市場(chǎng)的時(shí)間是至關(guān)重要的。因?yàn)闀r(shí)間直接決定產(chǎn)品的銷售時(shí)機(jī),影響其銷售量。
　　 在產(chǎn)品生產(chǎn)初期就制定一套高效的測(cè)試解決方案,可以避免在測(cè)試程序開(kāi)發(fā)階段多走彎路,提高測(cè)試程序開(kāi)發(fā)效率,有效的進(jìn)行測(cè)試生產(chǎn),使之快速投放市場(chǎng)。
　　

2、 本文主要以DPF(Digital Photo Frame)芯片為例,介紹了新產(chǎn)品測(cè)試方案的制定,測(cè)試程序的丌發(fā)及其優(yōu)化的全過(guò)程。對(duì)于新的功能模塊,結(jié)合既定的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,對(duì)測(cè)試方法和測(cè)試實(shí)現(xiàn)進(jìn)行了詳細(xì)的研究和設(shè)計(jì),使開(kāi)發(fā)出來(lái)的測(cè)試程序能夠更有效測(cè)試產(chǎn)品并具有一定的獨(dú)創(chuàng)性。在測(cè)試程序開(kāi)發(fā)完成投入量產(chǎn)測(cè)試后,依據(jù)生產(chǎn)取得的大量數(shù)據(jù)對(duì)測(cè)試程序進(jìn)行優(yōu)化,從而更有效的進(jìn)行測(cè)試生產(chǎn),節(jié)省測(cè)試成本。在實(shí)際應(yīng)用方面希望通過(guò)本文可以對(duì)混合信號(hào)產(chǎn)品的測(cè)